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X射线荧光镀层测厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 和FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® XYm X射线光谱仪，用于细小零部件上镀层厚度的无损测量和成分分析
| 用途 | 能量色散X射线荧光光谱仪 （EDXRF） 用于测量镀层厚度和材料分析 |
| 可测量元素范围 | 从氯（17）到铀（92），如使用选配的WinFTM® BASIC，可zui多同时测量24种元素 |
| 设计理念 | 台式仪器，测量门向上开启 |
| 测量方向 | 由下往上 |
| X射线靶材 | 带铍窗口的钨靶微聚焦射线管 |
| 高压 | 三种可调高压：30 kV，40 kV，50 kV |
| 孔径（准直器） | 4个可切换准直器： 标准型（523-440）：圆形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；矩形0.05 x 0.05mm；0.2 x 0.03mm 可选 （523-366）：圆形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；Ø 0.3 mm；矩形0.3 x 0.05 mm 可选 （524-061）：圆形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；矩形0.3 x 0.05 mm；0.05 x 0.05mm 可按要求定制其它规格 |
| 基本滤片 | 3种可切换的基本滤片（标准型：镍，无，铝） |
| 测量点大小 | 取决于测量距离和使用的准直器的大小，视频窗口中显示的就是实际的测量点尺寸，使用矩形0.05 x 0.05mm准直器，zui小的测量点面积约为Ø 0.1 mm。 |
| 测量距离，如样品为腔体时 | 使用保护的DCM（测量距离补偿法）功能： 测量距离为0 ~ 20 mm时，为已校准范围； 测量距离为20 ~ 27.5 mm，为非校准范围。 |
| X射线接收器 | 比例接收器 |
| 二次滤波器 | 可选：钴滤波器或镍滤波器 |
| 视频显微镜 | 高分辨 CCD彩色摄像头，可用来观察测量位置十字线刻度和测量点大小经过校准 测量区域的LED照明亮度可调节 |
| 放大倍数 | 38 x ~184x （光学变焦: 38x ~ 46x; 数字变焦: 1x, 2x, 3x, 4x） |
| 样品台 | XULM | XULM XYm |
| 设计 | 固定样品平台 | 手动XY平台 |
| X/Y方向zui大可移动范围 | - | 50 x 50 mm |
| 样品放置可用区域 | 250 x 280mm | |
| 样品zui大重量 | 2kg | |
| 样品zui高高度 | 240mm | |
| 电气参数 | |
| 电压，频率 | AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz |
| 功率 | zui大为 120 W （测量头重量，不包括计算机） |
| 保护等级 | IP40 |
| 仪器规格 | |
| 外部尺寸 | 宽x深x高[mm]：395 x 580 x 510 |
| 重量 | 约45 kg |
| 内部测量舱尺寸 | 宽x深x高[mm]：360 x 380 x 240 |
| 环境要求 | |
| 测量时温度 | 10°C – 40°C / 50°F – 104°F |
| 存储或运输时温度 | 0°C – 50°C / 32°F – 122°F |
| 空气相对湿度 | ≤ 95 %，无结露 |
| 计算系统 | |
| 计算机 | 带扩展卡的Windows®个人计算机系统 |
| 软件 | 标准配置：Fischer WinFTM® LIGHT |
| 可选配置：Fischer WinFTM® BASIC, PDM®, SUPER | |
| 执行标准 | |
| CE合格标准 | EN 61010 |
| X射线标准 | DIN ISO 3497和 ASTM B 568 |
| 型式许可 | 型式许可符合德国”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的，有完善防护措施的测量仪器。 |
