扫描透射探测器扫描透射探测器

扫描透射探测器是将透射电镜（TEMs）和扫描电镜（SEM）原理相结合的电子显微镜。它可以部分实现透射电子显微镜（TEM）的应用。STEM 探测器利用透射电子反映的*信息，扩展了 SEM 和 FIB-SEM 的成像和分析性能。它要求样品厚度小于 100 nm，并可结合元素分析技术，如 EDS 和透射模式 EBSD，以获得更高分辨率的显微分析信息 参考价面议

背散射电子探测器背散射电子探测器

背散射电子探测器取决于试样的平均原子序数，平均原子序数大的区域比平均原子序数小的区域更亮。因此，背散射电子图像反映样品的成分衬度。 参考价面议

二次电子探测器二次电子探测器

二次电子探测器是指从试样表面浅处（深度为几 nm）发射出的低能量电子，故而能对样品表面形貌呈高分辨率图像。二次电子是由入射电子与试样发生非弹性散射而产生，能量低于 50 eV。 参考价面议

TIMA-X 综合矿物分析仪TIMA-X 综合矿物分析仪

TIMA-X 综合矿物分析仪是一款自动化矿物分析系统，可用于如岩石、矿石、精矿、尾矿、浸出渣或冶炼产品等的快速定量分析。 参考价面议

FERA3双束扫描电镜FERA3双束扫描电镜

FERA3双束扫描电镜离子束流高达 2 µA，因此其溅射速度是传统 Ga 离子源的 50 倍以上，这使得 FERA3 成为完成耗时过长或几乎不可能实现的大体积铣削任务的理想设备。 参考价面议

GAIA3扫描电镜GAIA3扫描电镜

GAIA3扫描电镜是一款可以挑战纳米设计应用的理想平台，它同时具备高精度及微量分析能力。GAIA3 适用于高质量超薄 TEM 样品制备、在技术节点减少流程、精确的纳米构图或高分辨率的三维重构。 参考价面议

XEIA3扫描电镜XEIA3扫描电镜

XEIA3扫描电镜集非凡的超高分辨成像能力和优异的微细加工于一体。强大且超快速的微/纳米 FIB 加工、低能电子束下的超高分辨率（UHR）、超快且可靠的微量分析和三维重构功能，使得 XEIA3 成为一款理想易用的 FIB-SEM 系统。 参考价面议

LYRA3扫描电镜LYRA3扫描电镜

LYRA3扫描电镜是一款集高分辨率 FE-SEM 镜筒和多功能的高性能 Ga 离子源 FIB 于一体的双束扫描电镜，是切割横断面、定位制备高质量TEM样品以及高分辨三维样品重构的选择。同时，大电子束流下的优异分辨率有利于 EDX、WDX、EBSD 等分析应用。 参考价面议

TESCAN S8000GTESCAN S8000G扫描电镜

TESCAN S8000G扫描电镜是一款 FIB-SEM 系统，满足现今工业研发和学术界研究的所有需求，它可以提供的图像质量，可完成复杂的纳米操作并保证的精度和操作灵活性。 参考价面议

TESCAN S9000GTESCAN S9000G扫描电镜

TESCAN S9000G扫描电镜 是一款镓离子源的 FIB-SEM 系统，适用于超薄 TEM 样品制备和其它具有挑战性的纳米加工任务，这些任务要求设备具有分辨率、离子光学系统和纳米加工能力。 参考价面议

VEGA3VEGA3扫描电子显微镜

VEGA3扫描电子显微镜是 TESCAN 公司推出的*款扫描电子显微镜系列，经过 16 年的不断研发改进，如今已是成熟的第三代产品。历经多年市场考验，VEGA 已被证实具备非常优异的可靠性及性能优势，并帮助 TESCAN 在带电粒子光学领域奠定了地位。 参考价面议

MIRA3MIRA3扫描电镜

MIRA3扫描电镜配备有高亮度肖特基电子枪，以获得高分辨及低噪声成像。MIRA3 为用户提供优秀的扫描电镜使用体验，拥有更快的图像采集速度，超快速的静态和动态图像畸变补偿扫描系统以及用户自定义内置应用程序脚本等。 参考价面议