消除背面反射光
　　采用特殊光学系，消除背面反射光。不必进行背面的防反射处理，可正确测定表面的反射率。

可测定微小领域的反射率
　　用对物镜对焦于被测面的微小区域（φ60μm），可测定镜片曲面及镀膜层脱落。

测定时间短　
　　使用Flat Field Grating（平面光栅）和线传感器的高速分光测定，可迅速实现再现性很高的测定。

ＸＹ色度图、L*a*b*测定可能
　　以分光测定法为基准，从分光反射率情况可测定物体颜色。

Hard Coat（高强度镀膜）膜厚测定可能
　　用干涉光分光法，可以不接触、不破坏地测定被测物的膜厚（单层膜）。

主要用途
        · 各种透镜（眼镜透镜、光读取头镜片等） 
        · 反射镜、棱镜以及其他镀膜部品等的分光反射率、膜厚测定（单层膜）

与原产品的主要区别 
        · 采用全新的ＵＳＰＭ－ＲＵⅢ框架及设计，提高了操作性能。 
        · 受台Ｚ方向的移动范围从35mm（原产品）扩大到了85mm。 
        · 电源规格可对应AC100V以及AC220V。 （请您在下订单时注明电源规格。） 
        · 优化了软件的功能。（可显示10次测定的功能等） 
        · XY受台移动方向增加了比例尺。 
        · 更换卤灯时不需调整灯的位置。 
        · ＰＣ与Interface采用了ＵＳＢ式连接。