KIF-202L（KIF-202L）-小型激光干涉仪_激光干涉仪-北京元中锐科集成检测技术有限公司手机版

详细介绍

小型·操作简便
　　充分考虑作业现场内的使用环境，占地空间小，方便操作。

可测量倍率（1×、2.5×）
　　测定倍率扩大到2.5×，可简单测量小件物体。与Φ60-Φ15（可选件）的孔径转换器组合匹配使用的话，可zui大扩大10倍。（平面测定时）

参照镜片λ/20 高精度
　　因为本社加工技术，参照镜为λ/20高精度镜片。根据客户选择的需要，也可提供λ/30 的产品。

丰富的附属备件群
　　我社准备了丰富的附属备件。如使用干涉条纹解析装置（KIF-FSPC/FS2000），可进行高精度条纹解析。

主要用途：
· 镜片研磨面的面精度的测定。
· 塑料成型件的面精度的测定。
· 各种金属切削面的面精度的测定。

规格：

测定方法	斐佐型干涉方式
口径	Φ60（使用可选件为Φ6-Φ102）mm
被检物大小	Φ6-Φ102（平面测定时）mm
倍率	1×、2.5×（本体2 段切换） 4×、10×（使用Φ60-Φ15的孔径转换器时）
参照面精度	λ/20（球面以及平面）
光源	He-Ne（632.8nm）激光
电源	AC100V 50/60Hz
本体外形尺寸	220（W）×360（D）×740（H）mm
本体重量	约33kg
标准附属品	9型TV显示器、5轴调整受台

* 特殊定单，我社可对应15Omm冲程延长样式。
各参照镜可测量范围（表示KIF-202L标准规格样式时的可测定范围）

参照镜			检查可能曲率半径		检查可能zui大口径
FNO	zui终	R R/D	凸	凹	凸	凹
0.6	16.8	0.65	1~16	1~295	24.6	200
0.7	26.2	0.75	2~26	2~298	34.6	200
1.0	45.5	1.02	2~45	3~283	44.1	200
1.5	75.2	1.51	2~75	2~251	49.7	166.2
2.0	105.0	2.0	2~105	2~220	52.5	110
3.0	163.8	3.0	2~163	2~159	54.3	53
6.0	347.6	6.0	16~347	-	57.8	-

※凹面侧的测定可能曲率半径将会根据定盘的大小、干涉仪的设置方向（纵横）等机械的尺寸、以及线性卡尺、解析装置的安装而不同。
●如必须测定曲率半径在R2以下的场合，我社可以提供更加适合的规格，请与我社。
各标准规格参照镜的可测定范围
KIF-202L （标准规格）样式时的测定可能范围（mm）

参照镜			KIF-202L（标准规格样式）
型号	zui终R	R/D	测定可能曲率半径				测定可能zui大口径
			干扰条纹扫描机组无		干扰条纹扫描机组有		干扰条纹扫描机组无		干扰条纹扫描机组有
			凸	凹	凸	凹	凸	凹	凸	凹
F0.6	16.8	0.65	1~16	1~295	1~16	1~205	24.6	200	24.6	200
F0.7	26.2	0.75	2~26	2~298	2~26	2~208	34.6	200	34.6	200
F1.0	45.5	1.02	2~45	2~283	2~45	2~193	44.1	200	44.1	189.2
F1.5	75.2	1.51	2~75	2~251	2~75	2~161	49.7	166.2	49.7	106.6
F2.0	105.0	2.0	2~105	2~220	2~105	2~130	52.5	110	52.5	65
F3.0	163.8	3.0	2~163	2~159	2~163	2~69	54.3	53	54.3	23
F6.0	347.6	6.0	16~347	-	106~347	-	57.8	-	57.8	-

表示被检物的厚度为零时的数值。
各特别规格参照镜的测定可能范围（受注生产品）
*本社准备了2 英寸的特别规格参照镜，可用于较大曲率半径的测定。
*凹镜片测定用（发散型）样式有4 种，凸镜片测定用（集光型）样式有3 种。可供您随意选择。
KIF-202L （标准规格）样式时的测定可能范围（mm）

特别规格参照镜			KIF-202L（标准规格样式）
型号	zui终R	R/D	测定可能曲率半径				测定可能zui大口径
			干扰条纹扫描机组无		干扰条纹扫描机组有		干扰条纹扫描机组无		干扰条纹扫描机组有
			凸	凹	凸	凹	凸	凹	凸	凹
RS60-C150	-150.3	1.93	-	160~464	-	160~370	-	200	-	191.7
RS60-C300	-300.1	4.62	-	310~626	-	310~530	-	135.4	-	114.7
RS60-C390	-389.3	6.03	-	400~715	-	400~620	-	118.5	-	102.8
RS60-C490	-482.9	7.54	-	495~806	-	495~711	-	106.8	-	94.2
RS60-V520	519.1	8.85	193~509	-	290~509	-	57.5	-	57.5	-
RS60-V670	664.1	11.56	338~654	-	433~654	-	56.5	-	56.5	-
RS60-V750	750.3	13.08	426~740	-	521~740	-	56.5	-	56.5	-

表示被检物的厚度为零时的数值。
KIF-202LL（长距离：150mm冲程延长规格）样式时的测定可能范围（mm）

特别规格参照镜			KIF-202LL（长距离：150mm 冲程延长规格）样式
型号	zui终R	R/D	测定可能曲率半径				测定可能zui大口径
			干扰条纹扫描机组无		干扰条纹扫描机组有		干扰条纹扫描机组无		干扰条纹扫描机组有
			凸	凹	凸	凹	凸	凹	凸	凹
RS60-C150	-150.3	1.93	-	160~614	-	160~520	-	200	-	200
RS60-C300	-300.1	4.62	-	310~776	-	310~680	-	167.9	-	147.1
RS60-C390	-389.3	6.03	-	400~865	-	400~770	-	143.4	-	127.6
RS60-C490	-482.9	7.54	-	495~956	-	495~861	-	126.7	-	114.1
RS60-V520	519.1	8.85	43~509	-	140~509	-	57.5	-	57.5	-
RS60-V670	664.1	11.56	188~654	-	283~654	-	56.5	-	56.5	-
RS60-V750	750.3	13.08	276~740	-	371~740	-	56.5	-	56.5	-

表示被检物的厚度为零时的数值。
注明：测定可能zui大曲率半径以及测定可能zui大口径，将会根据干涉仪的受台夹具等机械尺寸、被检镜片的大小以及减振板、线性卡尺等的安装而改变。但是归根结底因为目视，故不能保证。

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