CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的 主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;2利用Φ50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;3利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;4利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;5利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;7利用φ50、φ44和φ40mm 三个台阶孔测定斜探头分辨力。
 

  CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的 主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;2利用Φ50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;3利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;4利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;5利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;7利用φ50、φ44和φ40mm 三个台阶孔测定斜探头分辨力。 CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的 主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;2利用Φ50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;3利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;4利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;5利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;7利用φ50、φ44和φ40mm 三个台阶孔测定斜探头分辨力。 CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的 主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;2利用Φ50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;3利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;4利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;5利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;7利用φ50、φ44和φ40mm 三个台阶孔测定斜探头分辨力。