Chroma 3160  终端测试分类机是一系列适合量产、高产出、多平行测试站点的高速IC测试分类机。此系列分类机运用Pick & Place技术，能够配合多种封装类型并按照测试结果将它们排序分类予分料盘中。其高效率的模组化设计与精准的机构传动结构可确保在高速运作下，机台量测之重复性，并有助于增加机台使用之稳定性与维护之便利性。此外，其简洁的机台设计更可节省机台于测试厂之占地面积，帮助客户大幅降低生产成本。3160F则可依其待测物 (指纹辨识芯片) 的不同需求，修改测试条件及程序。

Chroma 3160  终端测试分类机的特性：

• 9K pcs 产能 (Model 3160)
• 弹性的矩阵测试及指纹图形测试 (3160F)
• 1~10 Kgf 微型接触力 (3160F)
• 1 x 4 DUT架构 (3160/3160F)
• 空载盘自动堆迭 (选购) (3160F)
• 可设定的待测物间距
• 可侧边安装测试机
• 可编程气动式阻尼器控制，以减少接触力的影响响
• 智慧型IC残留检测
• 测试良率控制
• 通用治具
• 进阶版ESD标准