Chroma 3280 测试分类机为所有的SD卡类产品带来了一 个创新的测试方法，而这高效率的测试方法也为 客户带来大幅降低生产成本的好处。此外，小机 台的设计更可节省机台于测试厂之占地面积。整合了测试机台与自动分类机的功 能，并采用创新的设计，满足采用KGD生产的SD 卡类产品的测试需求，不论是在机台的成本或是 体积上，都比传统的测试机台来的大幅降低，因 此也就能够相对地大幅降低测试的成本。

SD卡类制造商了解在SD卡的制程 中必须采用Known Good Die(KGD)来进行生产。 其主要的原因，乃是因为采用KGD生产的SD卡类 产品，将可减少在成品测试中对于测试项目的要 求，只需针对成品封装过程中所可能产生的瑕疵 进行检测，而不需要再对整个晶片进行完整的测 试。

Chroma 3280 测试分类机的特色：

• 整合SD卡测试机与自动分类机功能
• 平行测试120个micro SD卡
• Test-In-Tray
• UPH = 5400 (以70秒的测试时间为例)
• 支援SD卡资料通讯协定
• 支援DC参数量测功能
• Microsoft Windows XP OS
• 提供Tray Map与分类结果资讯
• 小机台体积 : 164cm x 79cm x 180cm
• 选配设备
• 3rd Party测试模组整合
• Mini SD, SD与MMC的测试介面