Chroma 3650-CX SoC测试系统的软体测试环境CRISP ( Chroma Integrated Software Platform)，是一个结合工程 开发与量产需求的软体平台。主要包含四个部 份 : 执行控制模组、资料分析模组、程式除错 模组以及测试机台管理模组。透过亲切的图形 人机介面的设计，CRISP提供多样化的开发与除 错工具，包含 :Datalog, Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor 与Plan Debugger、Histogram, STDF, Wafer Map等 软体模组，可满足研发/测试工程师开发程式时 的需求与产线人员量产时的需求。

All-in-One小型化机台设计节省占地面积
3650-CX将所有的测试仪器模组与机台的电源系 统全部整合在单一个测试头的空间里，并且采用 气冷式的设计。透过如此高整合度的小型化设 计，可以大幅减少机台的占地面积，以节省整体 的测试成本。

周边设备
Chroma 3650-CX支援多种装置的驱动程式介面 (TTL & GPIB) ， 可进行与晶圆针测机和送料机， 包括SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTI-TEST、 ASECO、DAYMARC、TSK、OPUS II等等装 置之间的沟通。

Chroma 3650-CX SoC测试系统的特色：

• 50/100MHz测试工作频率
• 256个 I/O 通道(I/O Channel)
• 16/32 MW vector 记忆体
• 16/32 MW pattern instruction 记忆体
• Multi-site 测试可达 32 sites
• 16个 DPS 通道
• 8个 PMU 通道
• Per-Pin 时序频率测试单位
• 大可选购1024M bit x 4 CH scan depth
• 可选购记忆体测试用ALPG
• 高达 16 high-voltage pins
• 16 个高性能 DPS 通道
• 每片 VI45 类比单板可支援8~32通道
• 每片 PVI100 类比单板可支援2~8通道
• Windows® XP操作环境
• C++ 程式语言与图形人机介面设计
• 采用CRISP完整多样的系统软体工具
• 与周边设备相容性高
• All-in-One小型化气冷式机台设计，节省占地面积
• Cable Mount / Direct Mount