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成都冷热冲击试验箱仪器
简介:冷热冲击试验机,用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在zui短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化的测试之用。我司生产的冷热冲击试验机质量好,价格优,免费保养,欢迎采购。
设备规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择,充分满足不同用户的各种要求;设备还可提供标准高低温试验功能,实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容;高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性
成都冷热冲击试验箱仪器特点
1、分高温区、低温区、测试区三部分,测试样品放置测试区*静止,采用*之蓄热、蓄冷结构,强制冷热风路切换方式导入测试区,完成冷热温度冲击测试;既可作冷热冲击试验箱使用又可以作单独的高温箱或单独的低温箱使用;
2、可由测试孔外加负载配线测试部件;
3、大型彩色LCD触控对话式微电脑控制系统,操作简单易懂,运行状态一目了然;
4、全封闭进口压缩机+环保冷媒,板式冷热交换器与二元式超低温冷冻系统;
5、具有RS-232或RS-485通讯接口,可连接电脑远程操控,使用便捷;
6、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能,执行冷热冲击条件时,可选择2槽或3槽之功能,并具有高低温试验机的功能;
7、可在预约开机时间运转中自动提前预冷、预热、待机功能;
8、可设定循环次数及除霜次数,自动(手动)除霜;
9、采用日本Q8-900控制器人机界面友好,程序设定方便,异常及故障排除显示功能齐全。
高低温冲击试验箱执行与满足标准
1、GB/T2423.1-1989低温试验方法;
2、GB/T2423.2-1989高温试验方法;
3、GB/T2423.22-1989温度变化试验;
4、GJB150.5-86温度冲击试验;
5、GJB360.7-87温度冲击试验;
6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。
7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式
8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式
9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化
10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则
11、GB/T 2423.22-2002温度变化
12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则
规范要求:
a.采用铝片验证机台负载能力(非塑料负载)
b.传感器放置测试区而非风道口符合实验有效性
a.进行两箱冲击时测试区湿度符合规范要求
b.可扩充待测品表面温度控制驻留时间来缩短试验时间
c.可直接多项规范与试验条件
设备特点
规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择,充分满足不同用户的各种要求;
设备还可提供标准高低温试验功能,实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容;
高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性;
工作室材料为SUS304不锈钢 - 抗腐蚀、冷热疲劳功能强,使用寿命长;
高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减到zui小;
表面喷塑处理- 保证设备的持久防腐功能和外观寿命;
高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性;
多种可选功能(测试孔、记录仪、测试电缆等)保证了用户多种功能和测试的需要;
大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果;
环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求;
*可根据用户要求定制尺寸/定制使用指标/定制各种选配功能
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TSL-80-A | TSL-150-A | TSL-225-W | TSL-408-W | |||||
标称内容积(升) | 80 | 150 | 200 | 300 | ||||
试验方式 | 气动风门切换2温室或3温室方式 | |||||||
性能 | 高温室 | 预热温度范围 | +60~+200℃ | |||||
升温速率※1 | +60→+200℃≤20分钟 | |||||||
低温室 | 预冷温度范围 | -78-0℃ | ||||||
降温速率※1 | +20→-75℃≤80分钟 | |||||||
试验室 | 温度偏差 | ±2℃ | ||||||
温度范围 | TSL:(+60→+125)℃→(-40--10)℃; | |||||||
温度恢复时间※2 | 5分钟以内 | |||||||
试样搁架承载能力 | 30kg | |||||||
试样重量 | 7.5kg | 10kg | 10kg | |||||
内部尺寸(mm) | W | 500 | 600 | 750 | 850 | |||
H | 400 | 500 | 500 | 600 | ||||
D | 400 | 500 | 600 | 800 | ||||
外形尺寸(mm) | W | 1460 | 1560 | 1710 | 1880 | |||
H | 1840 | 1940 | 1940 | 2040 | ||||
D | 1500 | 1600 | 1700 | 1900 | ||||
※1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。 | ||||||||
※2恢复条件:室温为+25℃和循环水温为+25℃,试样是塑料封装集成电路。(均布) |