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成都冷热冲击环境试验箱
简介:冷热冲击试验机,用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在zui短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、电器、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT等物理性变化的测试之用。我司生产的冷热冲击试验机质量好,价格优,免费保养,欢迎采购。
设备规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择,充分满足不同用户的各种要求;设备还可提供标准高低温试验功能,实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容;高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性;、
成都冷热冲击环境试验箱
规范要求:
a.采用铝片验证机台负载能力(非塑料负载)
b.传感器放置测试区而非风道口符合实验有效性
a.进行两箱冲击时测试区湿度符合规范要求
b.可扩充待测品表面温度控制驻留时间来缩短试验时间
c.可直接多项规范与试验条件
*设备特点
规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择,充分满足不同用户的各种要求;
设备还可提供标准高低温试验功能,实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容;
高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性;
工作室材料为SUS304不锈钢 - 抗腐蚀、冷热疲劳功能强,使用寿命长;
高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减到zui小;
表面喷塑处理- 保证设备的持久防腐功能和外观寿命;
高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性;
多种可选功能(测试孔、记录仪、测试电缆等)保证了用户多种功能和测试的需要;
大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果;
环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求;
*可根据用户要求定制尺寸/定制使用指标/定制各种选配功能
TS试验机不需要使用液态气体(LN2或LCO2)辅助降温,待测物*静止测试方式是当前电子部品测试、研究、以及半导体生产线大量适用,可大量节省耗材测试费用,操作快捷、高信赖度,是本公司经多年研究开发的高性能试验机,为客户提供长期可靠的测试工具。
三槽式冷热冲击试验机 三箱蓄能式冷热冲击试验箱 三槽式温度冲击试验机的详细介绍
★产品用途:
RTS试验机不需要使用液态气体(LN2或LCO2)辅助降温,待测物*静止测试方式是当前电子部品测试、研究、以及半导体生产线大量适用,可大量节省耗材测试费用,操作快捷、高信赖度,是本公司经多年研究开发的高性能试验机,为客户提供长期可靠的测试工具。
★产品特点:
1) 试料槽*静止,可由测试孔处加负载配线;
2) 蓄热方式可使用职业伤害(注:液态气体所产生发气,吸入肺部致使肺部氧气量减少,而产生倦怠,集中力降低);
3) 采用触控式彩色液晶显示人机界面控制器,操作简单、学习容易;
4) 温度控制精度高,全部采用PID自动演算控制;
5) 可选择始动位置,高温或低温开始循环;
6) 具有预约起动功能;
7) 可设定循环次数及自动除霜;
8) 可选择二槽式或三槽冲击;
9) 有异常或故障显示及排除方法说明。
★执行与满足标准:
GB10592-89高低温箱技术条件;
GB10586-93湿热试验箱技术条件;
《GB2423.1-89电工电子产品基本环境试验规程》:低温试验方法;
《GB2423.2-89电工电子产品基本环境试验规程》:高温试验方法;
《GB/T2423.4-93电工电子产品基本环境试验规程》:交变湿热试验方法;
《GB/T2423.3-93电工电子产品基本环境试验规程》:恒定湿热试验方法。
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TSL-80-A | TSL-150-A | TSL-225-W | TSL-408-W | |||||
标称内容积(升) | 80 | 150 | 200 | 300 | ||||
试验方式 | 气动风门切换2温室或3温室方式 | |||||||
性能 | 高温室 | 预热温度范围 | +60~+200℃ | |||||
升温速率※1 | +60→+200℃≤20分钟 | |||||||
低温室 | 预冷温度范围 | -78-0℃ | ||||||
降温速率※1 | +20→-75℃≤80分钟 | |||||||
试验室 | 温度偏差 | ±2℃ | ||||||
温度范围 | TSL:(+60→+125)℃→(-40--10)℃; | |||||||
温度恢复时间※2 | 5分钟以内 | |||||||
试样搁架承载能力 | 30kg | |||||||
试样重量 | 7.5kg | 10kg | 10kg | |||||
内部尺寸(mm) | W | 500 | 600 | 750 | 850 | |||
H | 400 | 500 | 500 | 600 | ||||
D | 400 | 500 | 600 | 800 | ||||
外形尺寸(mm) | W | 1460 | 1560 | 1710 | 1880 | |||
H | 1840 | 1940 | 1940 | 2040 | ||||
D | 1500 | 1600 | 1700 | 1900 | ||||
※1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。 | ||||||||
※2恢复条件:室温为+25℃和循环水温为+25℃,试样是塑料封装集成电路。(均布) |