高温条件下研究材料介电性能*测量系统！

经过多年的努力，已经在材料物理性能表征测量领域成功积累了丰富的测量经验，为了更方便的研究高低温条件下材料的介电性能，我公司携手国内院校联合开发出高温介电参数测量系统。该系统可用于分析宽频、高低温条件下被测样品的阻抗Z，电抗X，导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量，同时还可以分测量样品随温度、频率变化的曲线。通过软件将这些变化曲线的频率谱、温度谱、偏压谱、阻抗谱、介电谱、cole-cole图等集成一体并进行分析进行分析测量，高温介电测量系统测量的频率从20Hz--10MHz,测量的温度从室温--1000℃。目前高温介电测量系统可广泛应用于陶瓷材料、半导体器件及功能薄膜材料等研究。

Ø  系统配置

高频 ： 测量频率：20Hz—10MHz

英国WK精密阻抗分析仪+GWM200高温测量装置+PTC10可编程温控仪+介电测量分析软件Dconstant

低频： 测量频率：1uHz—10MHz

英国输力强电化学阻抗+GWM200高温测量装置+PTC10可编程温控仪+介电测量分析软件

功能：

1、高温实现从室温到1000℃，升温斜率:2℃/min,控温精度:±1℃；
2、测量频率从20Hz-10MHz,测量精度0.05%；
3、采用铂金电极和引线,高温样品杆1000℃不氧化；
4、采用平行板电容器设计原理，样品放置位置灵活，可快捷安装和拆卸；
5、采用特殊设计处理和软件补偿，解决了因测量导线过长造成的测量误差等问题；
6、采用进口可控硅和PID精确控温，发热功率800W；
7、样品杆采用特殊设计，样品损坏率低，并能与电极保持良好接触。
8、样品和样品杆之间经特殊设计及加工，绝缘性能优良，解决了在高温条件下样品和样品杆之间绝缘难的问题；
9、系统阻抗分析仪可以配置英国WK精密阻抗分析仪，可以配置Agilent4294A或E4980A；
10、中文软件操作界面，菜单便捷，使用方便；
11、丰富多样的曲线图输出，软件可提供温度谱、偏压谱、阻抗谱、频率谱、时间谱、介电谱、Cole-Cole图，可在多窗口之间方便切换；
12、一次扫描zui多可达1600个点，具有线性和对数扫描；
13、提供-40V至+40V的直流偏置电压，可以测量样品C-V曲线；
14、数据可通过主机USB接口直接存储，也可通过GPIB接口和软件进行存储。
15、提供二年内免费功能升级的*服务；
16、系统还可以扩展测量样品在变温条件下的I-V曲线、电阻率测量、热释电、磁电容等测量功能；