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韩国MICRO PIONEER X-射線測厚儀XRF2000镀层测厚仪
1、测量电镀层厚度范围为0.03um-35um。
2、可测量镀种为:镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍及锌镍合金锡铜合金等。
3、可测量电镀镀层单镀层、双镀层、多镀层、合金镀层测量,不限底材。
三、设备功能描述
兼容Microsoft Windows 操作系统
使用X荧光射线非接触非破坏快速测量电镀层厚度
拥有多种滤波器选择
各种样品单层至多层(5层),合金膜层可测量
定点自动定位分析
光标对准全自动
影像重叠功能
自动显示测量数据
彩色区别测量数据
多重统计显示视窗与报告编辑应用2D/3D,任意位置测量控制Y轴全自动控制镭射对焦与自动定位系统
多种机型选择X-ray运行待命(睡眠)控制温控稳定
1、主机箱:
输入电压:AC220V±10%,50/60Hz
沟通方法:RS-232C
温度控制:前置放大及机箱温度控制
对焦:激光自动对焦
样品对位:激光对位
安全装置:若测量中箱门打开,X射线会在0.5秒内自动关闭
表面泄露:少于1SV
2、多通道分析:
通道数量:1024ch
温度控制:自动前置放大温度控制
脉冲处理:微电脑高速控制处理器
3、X射线源:
X射线管:油冷、超微细对焦
高压:0-50Kv(程控)
管电流:0-1mA(程控)
目标靶:W靶(可选Mo或Be)
4、准直器:
固定种类大小:0.1mm-0.2mm-0.3mm-0.4mm-0.05*0.1mm 五个可选
韩国MICRO PIONEER X-射線測厚儀XRF2000镀层测厚仪