铜上镀银X射线膜厚仪

韩国XRF-2000X光镀层测厚仪

韩国XRF-2000X光镀层测厚仪

测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯等

 可测单镀层，双镀层，多镀层，合金镀层等。

XRF-2000镀层测厚仪共三款型号

不同型号功能一样

机箱容纳样品大小有以下不同要求

XRF-2000镀层测厚仪型号介绍

XRF-2000镀层测厚仪H型:测量样品高度不超过10cm

XRF-2000电镀测厚仪L型:测量样品高度不超过3cm

XRF-2000电镀膜厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm

仪器功能

 全自动台面

自动雷射对焦

多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）

测量样品高度3cm 10cm 15cm 20cm 以内四种规格可选

镀层厚度测试范围：0.03－35um

可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度

每层镀层都可分开显示各自厚度.

测量时间：10－30秒

韩国XRF2000X光镀层测厚仪精度控制：
     
*层：±5%以内
第二层：±8%以内
第三层：±15%以内
 

铜上镀银X射线膜厚仪