XRF-2000膜厚仪

原产地：韩国

功能及应用：测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯等

可测单镀层，双镀层，多镀层，合金镀层等。

XRF-2000膜厚仪精度

表层：±5%以内

第二层：±8%以内

第三层：±15%以内

XRF-2000膜厚仪测试范围  

Au 0.03-4um

Ag  0.03-25um

Ni 0.05-20um

Ni-P 0.05-20um

Sn 0.05-80um

Cr  0.05-20um

Zn  0.05-20um

ZnNi:0.05-20um

SnCu:0.05-20um

Micro Pioneer

XRF-2000膜厚仪配置

全自动台面

自动雷射对焦

多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）

测量样品高度3cm  10cm  15cm  20cm 四种规格可选

测量样品长宽均为55cm  

可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度

Micro Pioneer XRF-2000膜厚仪

测量镀种为：镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等