ITO导电箔膜四探针方阻测试仪操作步骤_方阻测试仪-宁波瑞柯微智能科技有限公司手机版

产品简介

ITO导电箔膜四探针方阻测试仪操作步骤，改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准确四探针测试仪

详细介绍

ITO导电箔膜四探针方阻测试仪操作步骤

适用范围Widely used：

1.覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、导电窗膜导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试

2.硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，

3.EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，

4.抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等，

ITO导电箔膜四探针方阻测试仪操作步骤

规格型号	FT-331	FT-332	FT-333	FT-334	FT-335	FT-336
1.方块电阻范围	10^-5～2×10⁵Ω/□	10^-4～2×10³Ω/□	10^-3～2×10⁵Ω/□	10^-3～2×10³Ω/□	10^-2～2×10⁵Ω/□	10^-2～2×10³Ω/□
2.电阻率范围	10^-6×10⁶Ω-cm	10^-5×10⁴Ω-cm	10^-4～2×10⁶Ω-cm	10^-4～2×10⁴-cm	10^-3～2×10⁶Ω-cm	10^-3～2×10⁴-cm
3.测试电流范围	0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA	10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA	0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA	10μA，100μA，1mA，10mA， 100 mA	0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA	1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA
4.电流精度	±0.1%读数	±0.2%读数	±0.2%读数	±0.3%读数	±0.3%读数	±0.3%读数
5.电阻精度	≤0.3%	≤0.3%	≤0.3%	≤0.5%	≤0.5%	≤0.5%
6.显示读数	液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率
7.测试方式	普通单电测量
8.工作电源	输入: AC 220V±10% ,50Hz 功耗：<30W
9.整机不确定性误差	≤4%（标准样片结果）
10.选购功能	选购1.pc软件；选购2.方形探头；选购3.直线形探头；选购4.测试平台
11.测试探头	探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针