如果n1>n2，则介质1相对于介质2为光密介质，介质2相对于介质1为光疏介质。对于X射线，一般固体与空气相比都是光疏介质。所以，如果介质1是空气，那么α1>α2，即折射线会偏向界面。如果α1足够小，并使α2=0，此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1<α临界时，界面就象镜子一样将入射线全部反射回介质1中，这就是全反射现象。
HORIZON 配备了12位样品台自动测量，创新光学编码器的步进电机，角度测量，采用高分辨、低背景的帕尔贴控温硅漂移检测器。广泛应用在环境分析、制药分析、法医学、化学纯度分析、油品分析、染料分析、半导体材料及核材料工业分析领域。
全反射X荧光光谱仪主要特点
1、单内标校正，有效简化了定量分析，无基体影响；
2、对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析；
3、多元素实时分析，可进行痕量和超痕量分析；
4、不受样品的类型和不同应用需求影响；
5、液体或固体样品的微量分析，分析所需样品量小；
6、优良的检出限水平，元素分析范围从钠覆盖到钚；
7、动态线性范围；
8、无需任何化学前处理，无记忆效应；
9、非破坏性分析，运行成本低廉。
