Phasics 提供 SID4 系列高性能/高分辨率波前传感器以及包含该波前传感器的 Kaleo 系列干涉仪。这些产品拥有支持 UV、VIS、SWIR、DWIR 和 LWIR 等各个波长带的一系列型号，用于激光测量、光学测量、天文学、国防、太空和半导体制造等应用和市场。

SID4 UV

SID4 UV 可在低至 250 nm 的波长下提供高分辨率波前测量，使其成为紫外光学检测、紫外激光表征(用于光刻和半导体应用)以及透镜和晶圆表面检测的理想选择。

● 光谱范围 UV (190-400 nm)

● 超高分辨率250×250采样

● 高灵敏度

● 经济实惠的 2 nm RMS UV 波前测量解决方案

SID4 UV HR

SID4 UV HR 波前传感器基于 Phasics 的技术，在 190 nm 至 400 nm 的紫外光谱范围内提供高分辨率(512 x 512 个测量点)和灵敏度(2 nm RMS)。因此，SID4 UV HR 非常适合光学元件特性分析(用于光刻、半导体……)和表面检查(镜头和晶圆)。

● 灵敏度低至 190 nm

● 高灵敏度 2 nm RMS

● 非常高的分辨率(512 x 512采样)

● 光谱范围 紫外 (190 - 400 nm)

SID4

SID4 是我们入门级但高分辨率的波前传感器，覆盖可见光和近红外范围，是任何激光或光学计量应用的多功能工具。高灵敏度 - 2 nm RMS

400 - 1100 nm 范围内消色差，无需校准

自参考对振动不敏感且易于对准

光谱范围 VIS - NIR (400 - 1100 nm)

SID4 HR V

SID4 HR V 是市场上第一款现成的真空兼容波前传感器，为高能激光设施中的自适应光学开辟了新视野。在实际实验条件下现场测量波前，表征压缩机容器内的激光束，并测量目标旁边的气体射流和等离子体密度!借助 Phasics 的策略，现在可以校正真空室内每个光学元件的像差，直至目标位置。SID4 HR V 还可用于在环境测试活动期间进行波前测量。

真空兼容性 > 10 -6 mbar

不受热和机械真空约束影响

低排气

光谱范围 VIS - NIR (400 - 1100 nm)

SID4 HR

SID4 HR 为苛刻的波前测量应用带来了超高相位采样 (416 x 360) 和高动态范围 (500 µm PV)。其大孔径和高波前灵敏度使其非常适合直接测量大型发散光束，而无需中继光学元件。

非常高的分辨率(416 x 360 相位像素)

大分析瞳孔：9.98 x 8.64 mm²

直接测量高达 0.8 NA 的光束

光谱范围 VIS - NIR (400 - 1100 nm)

SID4 SWIR

SID4 SWIR 波前传感器将 Phasics 的技术与 InGaAs 探测器相结合。凭借其高空间分辨率(80 x 64 相位像素)和高灵敏度，它可提供从 900 nm 到 1.7μm 的精确波前测量。SID4 SWIR 是一种创新解决方案，用于测试光通信、检查仪器或军事和监视设备中的夜视中使用的 SWIR 光学系统。

高分辨率 – 80 x 64 相位像素

高灵敏度——兼容低能红外源

结构紧凑，自参考，易于设置

短波红外光谱范围 (900 - 1700 nm)

SID4 SWIR HR

SID4 SWIR HR 波前传感器将 Phasics 的技术与 InGaAs 探测器相结合。凭借其超高空间分辨率(160 x 128 相位像素)和高灵敏度，它可提供从 900 nm 到 1.7 µm 的精确波前测量。SID4 SWIR HR 是一种创新解决方案，用于测试光通信、检查仪器或军事和监视设备中的夜视中使用的 SWIR 光学系统。

扩展光谱范围从 0.9 至 1.7 µm

非常高的分辨率——160 x 128 相位像素

高灵敏度——兼容低能红外源

短波红外光谱范围 (900 - 1700 nm)

SID4 DWIR

SID4 DWIR 是一款现成的高分辨率波前传感器，适用于 3 至 5 µm 和 8 至 14 µm 的双波段红外。它非常适合表征红外光学器件、黑体源、3.39 µm 或 10.6 µm 激光束和系统。高分辨率 – 160 x 120 相位像素

使用同一传感器的 MWIR 和 LWIR 波段

无需中继透镜即可进行高数值孔径测量

光谱范围 MWIR(3 - 5 μm) LWIR(8 -14 μm)

SID4 LWIR

SID4 LWIR 带来长波长红外区域(8 μm 至 14 μm)的高分辨率波前测量，并表征用于 CO2 和 OPO 激光束测量、热成像、安全和安全视觉的红外组件和镜头。

8 至 14 μm 的整个长波红外波段消色差

非制冷焦平面阵列技术

高分辨率。 160 x 120 相位像素

光谱范围 LWIR (8 -14 μm)

应用领域

1、3D 表面形貌测量

测量表面特性是控制和调整制造方法以提高样品整体性能的一种方法。对于此类应用，Phasics SID4 定量相位成像相机可集成在商用或自制光学显微镜装置上。Phasics 的专业软件实时输出光程差(OPD) 图，可直接转置为表面形貌。Phasics 表面测量解决方案以其紧凑性和易于集成性而脱颖而出。事实上，SID4 波前传感器与传统科学相机一样紧凑且易于集成。集成可以直接在生产线上或计量实验室中进行。

2、激光束测试

Phasics 的波前传感器基于其专有技术，可同时提供 相位和强度测量，具有高分辨率。SID4 波前传感器与其光束分析软件相结合，可对激光进行全面诊断：波前像差、强度分布、激光光束质量参数(M2、腰围大小和位置等)。鉴定在单次采集中完成。Phasics 的波前分析仪可放置在光学装置的任何位置，无论光束是准直的还是发散的。Phasics SID4 波前传感器适用于任何激光，无论是连续激光还是脉冲激光，从紫外线到远红外线，包括宽带可调光源、拍瓦激光链等。

3、镜头及组装测试

Phasics 的四波横向剪切干涉 (QWLSI) 波前传感技术具有的功能，无需任何中继光学器件即可测量高数值孔径光束。这一优势简化了测量设置。只需一次拍摄，即可测量波前误差 (WFE)和调制传递函数 (MTF) 。物镜、子组件和最终组件的鉴定完整且易于实施。事实上，SID4 波前传感器只需放置在焦点后几毫米的发散光束中即可。测量后，借助 Phasics 软件模块 DesignPro，可以将波前测量结果与 Zemax 理论模拟进行比较。某些测试协议仍然需要双通测试配置，这也与 SID4 波前传感器兼容。

4、定量相位成像

Phasics 引入了光学显微镜的新模式：定量相位成像。Phasics 的 创新技术依赖于类似相机的仪器，可 轻松对活细胞、组织或任何其他半透明样本等标本进行无标记成像 。它提供无伪影的定量相位图像，可准确测量有价值的参数：形态、干质量、单个细胞的密度……它适用于癌症和干细胞研究、药物筛选、血液测试……智能仪器只需插入任何光学装置 即可轻松实现多模态，例如相位荧光组合。它是最容易集成的 QPI 技术，是与人工智能算法相结合的 高内涵筛选平台的宝贵资产。

法国进口PHASICS波前传感器供应所有型号

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