PHI GENESIS 900PHI 硬X射线光电子能谱仪

下一代透明发光材料使用直径约为 10nm~50nm 的 纳米量子点（QDs）， 结合使用 XPS（Al Kα X 射线） 和 HAXPES（Cr Kα X 射线）对同一微观特征区域进 行分析，可以对 QDs 进行详细的深度结构分析。 XPS 和 HAXPES 的结合使用，可以对纳米颗粒进行 深度分辨、定量和化学态分析， 从而避免离子束溅 射引起的损伤。 参考价面议

PHI GENESIS 500PHI X射线光电子能谱仪

XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy),又称ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis),是利用X射线入射样品 表面，探测样品表面出射的光电子,来获得表面组成及化学态信息的一种表面分析方法。XPS可对元素成分进行定性定量分析， 同时通过微聚焦扫描技术可以实现微米级空间分辨能力，因此广泛应用于科学研究和高科 参考价面议

PHI ADEPT 1010动态二次离子质谱仪

动态二次离子质谱仪（D-SIMS）是使用一次离子束（通常是Cs源）轰击样品表面，而产生二次离子，然后用质谱分析仪分析二次离子的质荷比（m/q），从而得知元素在样品中的深度分布，是分析半导体掺杂和离子注入的强有力的工具。 参考价面议

PHI nanoTOF 3+飞行时间质谱仪

nanoTOF 3+是PHI较新一代的TOF-SIMS，擁有全新外观、紧凑设计，以及更强性能。 参考价面议

PHI 710扫描俄歇纳米探针

PHI 710扫描俄歇纳米探针是一台设计*的高性能的俄歇电子能谱（AES）仪器。该设备能分析纳米级特征区域，超薄薄膜和多层结构材料表界面的元素态和化学态信息。作为高空间分辨率，高灵敏度和高能量分辨率的俄歇电子能谱仪， PHI 710可以为用户提供纳米尺度方面的各种分析需求。 参考价面议