斯派克 X荧光光谱仪 XEPOS技术参数

德国斯派克分析仪器公司开发出了一种极其成功的技术，把偏振X射线应用于荧光分析。正如现今在拍摄高质量图片时偏振滤光片是不可替代的工具一样，这种的分析技术已成为实验室测定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。斯派克分析仪器公司不断发展这一技术，并推出了新一代的仪器—SPECTRO XEPOS台式偏振X射线荧光光谱仪。
斯派克 X荧光光谱仪 XEPOS技术参数

SPECTRO XEPOS内部采用高性能部件，可获得好的灵敏度和准确性。采用偏振次级靶以确保*佳激发，12位样品自动交换器，预先安装好的应用软件包和智能软件模块，使SPECTRO XEPOS成为真正的多功能元素分析仪。

SPECTRO XEPOS配有预先安装好的应用包，包括：在工厂预先校正好的各种硬件和分析方法。适合分析：土壤、污泥、油中添加剂、水泥、炉渣、耐火材料、电子元器件RoHS检测等。

XEPOS型X射线荧光光谱仪可广泛应用于各种电子材料及塑料中铅、镉、（汞）等元素分析，检出下限低，灵敏度高、稳定性好，可应对欧洲WEEE、RoHS指令。