ILT 5000 SED005WBS320W紫外光固化与光辐射危害及闪光灯测量系统

紫外光固化与光辐射危害及闪光灯测量系统的研究

光学分析的10多个进制单位的动态范围

Pico-ammeter：10fA至1mA（从100fA至1mA校准）

无线通信：内置

用户控制或自动：范围、规零/暗零、采样率

4-20 mA输出

15针D Sub和SMA输入端口

“Set it & Forget It”远程数据记录

电源：USB或内置充电电池组

多系统同时连续监测

包括DataLight II软件和Labview采样代码

NIST可追溯/ISO17025认证校准

采样率高达100 Hz，可编程

ILT 5000 SED005WBS320W紫外光固化与光辐射危害及闪光灯测量系统描述：

紫外敏感危害探测器设计为在250至400 nm的宽紫外波段上具有高灵敏度，用于紫外敏感危害研究

测量

测量范围：2.33e-8至2.33e+0 W/cm2

光谱范围：250–400 nm

配置：ILT5000*，SED005/WBS320/W（探头）

*包括软件

应用：该检测器经过特殊配置，可准确测量穿过UV波段的宽波部分，用于总UV灵敏度危险监测。

滤光片和输入光学元件是可拆卸的，可以与探测器组件分开购买，以允许滤光片和输入光学元件互换。

注：配置中不含图片中的平板电脑。