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K系列博曼BOWMAN高精度镀层测量仪
美国博曼K系列XRF高精度涂层测量系统，具备12英寸×12英寸的测量区域，适用于多种样品检测。 参考价面议 -
B系列博曼BOWMAN高性能XRF镀层测厚仪
B系列是博曼的基础机型和常规机型。该型号采用自上而下的测量方式。配备固定样品台可实现手动操作。测量时将样品放入样品仓，通过观察视频图像来对准屏幕上十字线内的位置来完成测量。 参考价面议 -
α500系列低频消磁系统
UNICORN α500 系列低频消磁系统（ EMI Canceling System，又称消磁器），DC 与 AC 双模式主动消磁器，采用高精度纯直流测量/反馈 /控制电路， 适用于改善1000Hz 以下的低频电磁干扰环境。特别适用于各种电子显微镜、光刻机的环境磁场改善，消除低频电磁干扰。 参考价￥59 -
EST-L主动式防震系统
一些灵敏度很高的仪器可能是一个自然谐振频率的被动系统，可以用主动隔振系统消除共振。 KURASHIKI 通过在发展主动防震系统的同时补充了被动系统，主动防震系统可为灵敏的仪器提供各种消除振动干扰的需求。 参考价￥59 -
EST-58-450桌上型主动式隔振台
mini 桌上型主动式隔振台新设计，易使用 参考价￥59 -
iMicroKLA 纳米力学测试仪
iMicro为压痕、硬度、划痕测试和多元化纳米级测试等纳米级力学测试设计。iMicro具有多量程加载驱动器，实现在宽泛的荷载和位移的范围内进行测量。iMicro能够测试包括软质高聚物到硬质涂层和薄膜等在内的多种材料。模块化系统选项可以完成各种不同应用：特定频率测试、定量划痕和磨损测试、集成探针成像、高温测试和自定义方法编程等 参考价￥59 -
iNanoKLA 纳米压痕仪
iNano 纳米压痕仪可轻松测量薄膜、涂层和少量材料。 该仪器准确、灵活，并且用户友好，可以提供压痕、硬度、划痕和通用纳米级测试等多种纳米级机械测试。 该仪器的力荷载和位移测量动态范围很大，因而可以实现从软聚合物到金属材料的精确和可重复测试。 模块化选项适用于各种应用：材料性质分布、特定频率测试、刮擦和磨损以及高温测试。 iNano提供了一整套测试扩展选项，包括样品加热、连续刚度测量、NanoBl 参考价￥59 -
AT2Lumina薄膜缺陷检测仪
Lumina AT2薄膜缺陷检测仪实现亚纳米薄膜涂层、纳米颗粒、划痕、凹坑、凸起、应力点和其他缺陷的全表面扫描和成像。实用于透明、硅、化合物半导体和金属基底。在2分钟内扫描并显示300毫米晶圆。动态补偿表面翘曲。可以标刻出缺陷的位置，以便进一步分析。可容纳高达450 x 450 mm的非圆形和易碎基板。能够通过一次扫描分离透明基板上的顶部/底部特征。 参考价￥59 -
AT1Lumina薄膜缺陷检测仪
Lumina AT1薄膜缺陷检测仪实现亚纳米薄膜涂层、纳米颗粒、划痕、凹坑、凸起、应力点和其他缺陷的全表面扫描和成像。实用于透明、硅、化合物半导体和金属基底。在3分钟内扫描并显示150毫米晶圆。可以标刻出缺陷的位置，以便进一步分析。 可容纳高达300 x 300 mm的非圆形和易碎基板。 能够通过一次扫描分离透明基板上的顶部/底部特征。 参考价￥59 -
R54四探针电阻率测量仪
Filmetrics R54四探针电阻率测量仪是KLA薄膜电阻和导电率测绘系统，从半导体制造到实现可穿戴技术所需的柔性电子产品，薄膜电阻监控对于任何使用导电薄膜的行业都比较重要。R54在功能上针对金属薄膜均匀性测绘、离子注入表征和退火特性、薄膜厚度和电阻率测量以及非接触式薄膜厚度测量进行了优化。 参考价面议 -
R50四探针电阻率测量仪
Filmetrics R50四探针电阻率测量仪系列提供接触式四点探针（4PP）和非接触式涡流（EC）测量。 参考价面议 -
F54-XYT-300薄膜厚度测量仪
借助F54-XYT-300薄膜厚度测量仪的光谱反射系统，可以快速轻松地测量200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供快速的厚度测量，达到每秒两点。您可以从数十种预定义的极性，矩形或线性测量坐标图案中选择，也可以创建自己编辑的不受限制的测量点数量。此桌面系统只需几分钟即可完成设置，任何具有基本计算机技能的人都可以使用。 参考价面议