美国博曼（Bowman）Bowman BA系列台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪

Bowman B系列机型采用业界前列的多孔毛细管光学聚焦装置，有效缩小测量点斑点的同时，可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。

Bowman B系列机型配备大面积的SDD（硅漂移探测器），有效拓展元素分析范围，适应严格的微区、超薄镀层，以及痕量元素分析需求。

优质的测试性能、突出的微区测量能力，Bowman B系列机型是研究开发、质量管控的XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。

稳定的X射线管

         ● 微聚焦50瓦Mo靶射线管（其它靶材可选）; 小于100um的测量斑点

         ● 射线出射点预置于射线管Be窗正中央

         ● 长寿命的射线管灯丝

         ● 预热和ISO温度适应程序

多毛细管聚焦光学结构

         ● 显著提高X射线信号强度

         ● 获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度

         ● 小于100um直径的测量斑点

         ● 经过验证，接近优秀的测量精度

应用领域：

常见的镀层应用:

         PCB行业

         Au/Pd/Ni/Cu/PCB

引线框架

         Ag/Cu

         Au/Pd/Ni/CuFe

半导体行业

         Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材

         Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材

线材

         Sn/Cu

珠宝、贵金属

         10,14,18Kt

元素分析、合金分类、杂质分析、溶液分析、电镀液分析等

美国博曼高性能XRF镀层测厚仪

三十余年深耕镀层测厚事业经历不断创新、获得广泛好评

具备广泛的镀层厚度测量范围（可对13号铝元素到92号铀元素进行高精度测量分析）

   成为越来越多行业的满意选择 

可为您提供高精度，快速简便的测量和分析