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基于Phasics的四波横向剪切干涉技术,SID4-Dwir涵盖了中红外和远红外波段(3-5,8-14µm)。在中波红外和长波红外范围具备高分辨率(160×120个测量点)。非常适合红外目标与镜头测试或红外激光束测量(CO2,OPO激光…)。
SID4-Dwir 光学器件测量 自适应光学
Phasics SID4-Dwir波前传感器特点:
由于其的技术技术,Phasics的SID4-Dwir波前传感器具备以下特点:
1.高分辨率:160x120测量点
2.双波长测量:3-5,8-14µm中远红外
3.消色差:可用于黑体辐射测量
4.高数值孔径测量:无需外加透镜
Phasics SID4-Dwir波前传感器应用:
1.光学测量:SID4-Dwir是表征红外目标的工具(热成像和安全视觉),红外镜头(CO2激光)测量可出给MTF,PSF,以及泽尼克像差。消色差功能可在多波长下测试。
2.激光束测量:如CO2激光或红外OPO激光光源的特性测量,SID4-Dwir提供了一个全面的光束特性(像差,M²,强度分布,光束参数…)
SID4-Dwir产品参数:
波长范围 | 3-5和8-14μm |
通光孔径 | 10.88 x 8.16 mm2 |
空间分辨率 | 68 µm |
采样点(相位/强度) | 160 x 120 (> 19 000 points) |
相位相对灵敏度 | 75nm RMS |
相位精度 | 25 nm RMS |
动态范围 | ~ |
采样频率 | 50 fps |
实时分析频率 | 10 fps (full resolution) |
数据接口 | Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) | 85 x 118 x 193 mm |
重量 | ~1.6k g |