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基于Phasics四波横向剪切干涉技术，SID4波前分析仪具备了很高的的相位和强度分辨率（160x120测量点），且使用简便。
SID4-HR 光学器件测量 自适应光学
phasics SID4波前传感器特点：
由于其的技术，Phasics的SID4波前传感器具备以下特点：
1.超高分辨率：160x120测量点
2.直接测量发散和准直光束
3.从400到1100nm消色差
4.自校准：振动不敏感和容易对齐
5.紧凑，体积小
phasics SID4波前传感器应用：
SID4波前传感器提供新的可能性应用：
激光：光束诊断、自适应光学
光学：精密透镜测试和表面测量
生物学：显微自适应光学
SID4产品参数：
| 波长范围 | 400 - 1100 nm |
| 通光孔径 | 3.6 x 4.8 mm2 |
| 空间分辨率 | 29.6 µm |
| 采样点（相位/强度） | 160 x 120 (> 19 000 points) |
| 相位相对灵敏度 | < 2 nm RMS |
| 相位精度 | 10 nm RMS |
| 动态范围 | > 100 µm |
| 采样频率 | > 60 fps |
| 实时分析频率 | > 10 fps (full resolution) |
| 数据接口 | Giga Ethernet |
| 尺寸(w x h x l) | 54 x 46 x 75.3 mm |
| 重量 | ~250 g |
