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奥林巴斯 BX53-P 偏光显微镜采用 UIS2 无限远校正光学系统和光学设计，在偏光应用中具有出色的性能。扩展的兼容补偿器系列使 BX53-P 偏光显微镜用途广泛，几乎可以处理任何领域的观察和测量应用。
UIS2 光学系统充分利用了无限远校正的优势，有助于防止光学显微镜性能下降并消除放大因素，即使将偏振元件（如分析器、色板或补偿器）引入光路也是如此。BX53-P 显微镜还接受适用于 BX3 系列显微镜以及相机和成像系统的中间附件。
石英闪长岩中的斜长石的带状结构。 *比例表示样品的实际尺寸
MBBA 的光学结构 *尺度表示样本的实际尺寸
使用锥光观察附件，在正交观察和锥光观察之间切换非常简单。它可聚焦，以便观察清晰的后焦平面干涉图案。伯特兰透镜可聚焦，以便清晰地观察后焦平面干涉图案。视场光阑使始终获得清晰的锥光图像成为可能。
有六种不同的补偿器可用于测量岩石和矿物薄片中的双折射。测量延迟水平范围为 0 至 20λ。为了便于测量并获得高图像对比度，
可以使用 Berek 和 Senarmont 补偿器，它们会改变整个视野中的延迟水平。
补偿器的测量范围
| 补偿器 | 测量范围 | 应用 |
|---|---|---|
| 蒂克贝雷克 (U-CTB) | 0–11000 纳米 （20λ） | 高延迟水平 (R*>3λ) 的测量，（晶体、大分子、纤维等） |
| 贝雷克 (U-CBE) | 0–1640 纳米 (3λ) | 延迟水平的测量（晶体、大分子、生物体等） |
| Senarmont 补偿器 (U-CSE) | 0–546 纳米 (1λ) | 测量延迟水平（晶体、生物体等）； 增强图像对比度（生物体等） |
| 支撑-科勒 补偿器1/10λ (U-CBR1) | 0–55 纳米 (1/10λ) | 低度迟钝水平的测量（生物体等） |
| 支撑-科勒 补偿器1/30λ (U-CBE2) | 0–20 纳米 （1/30λ） | 图像对比度测量（生物体等） |
| 石英楔块 (U-CWE2) | 500–2200 纳米 (4λ) | 延迟水平的近似测量（晶体、大分子等） |
*R = 延迟级别
为了获得更准确的测量结果，我们建议将补偿器（U-CWE2 除外）与干涉滤光片 45-IF546 一起使用
我们的偏光物镜将内部应变降低。这意味着更高的 EF 值，从而产生出色的图像对比度。
旋转台上安装的旋转定心机构可使样品平稳旋转。此外，每 45 度处都有一个止动机构，可实现精确测量。使用可选的双机械台，可以实现谨慎的 XY 移动。
