Hitachi/日立 品牌
生产厂家厂商性质
上海市所在地
EA8000日立X射线荧光分析仪规格参数：
| 测量元素 | 原子序号Mg（12)～U（92) |
|---|---|
| 样品形状 | 粉体、固体 |
| X射线源 | 水冷室X射线管球（透射X射线） |
| 管电压：15、17.5、20 kV（透射X射线）、45 kV（荧光X射线） | |
| 管电流：1～35 mA（透射X射线）、900 µA（荧光X射线） | |
| X射线照射方向 | 下方照射型（透射X射线） 上方照射型（荧光X射线） |
| 检测器 | 面型图象传感器（透射X射线） Vortex（荧光X射线） |
| 分析区域 | 30 mmΦ（透射X射线） |
| 样品观察 | 高分辨率CCD摄像头 |
| 滤波器 | 4种模式自动切换（荧光X射线） |
| zui大样品尺寸 | 250(W)×200(D)×0～50(H) mm |
| 仪器尺寸 | 1380(W)×1042(D)×1785(H) mm |
| 重量 | 660 kg |
| 电源/额定功率 | AC200～240 V(50～60Hz)/1500 VA |
EA8000X日立X射线荧光分析仪特点：
例如要检测250×200 mm（约B5尺寸）的电池电极板中20 µm的金属异物，以往的X射线透视检查仪需要十小时左右的摄像时间。株式会社日立*科学通过新型X射线透视方法的开发，成功缩短了时间。检测速度成功达到了以往的100倍以上，可在3～10分钟内完成
针对快速拍摄的250×200 mm的X射线投射图的整面进行快速图像处理，自动检测出异物点。
日立EA8000X射线荧光分析仪只针对自动检测出的 异物点进行X射线荧光扫描，自动分析元素。
对于样品中检测出来的金属异物，自动通过X射线荧光法进行元素识别。例如，以往在检测电极板中可能存在的20 µm左右的微小金属异物，只能分析存在于样品表面的异物。这是由于存在于内部时，由异物产生的荧光X射线会被基材所吸收，信号强度非常微弱。EA8000通过独自研发的高能量X射线光学系统，可对电极、有机薄膜内部所含的20 µm大小的微小金属异物进行元素分析。
与以往的技术相比，金属异物的检测速度、元素分析速度大幅提高，并且把显微镜等都组合在一台仪器内，各个系统联动可全自动输出测量结果。因此，操作人员只需放置好样品，即可获得测量结果，大大提升了作业效率。
