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耳机综合测试仪特点：
品名：耳机综合测试仪
主要特点:
· 典型的THD+N -106 dB以及24位、1百万点的FFT (选件)
· 不需要任何编程，在3秒内进行全面测试
· 直观的用户接口，一键点击测量
· 支持VB.NET,C#.NET,全面地LabVIEW驱动
· 用脚踏开关或条码扫描器控制APx
· 在任何一台APx仪器上分享工程文件以及采集的.wav文件
· 用MS word 或APx的用户接口创建自定义的测试报告
· 高级的测量库包括IMD, MOL, 动态范围, FFT或更多 (选件)
型号和选件：APx515只有一个型号，但有软件选件扩展测量能力
APx515 2通道輸入/出 192k采樣数字 I/O接口音频分析仪
SW-HST 增加高速测量的多音(Multi-tone) 和连续扫描 (Continuous Sweep) 测量
SW-AML 增加IMD、MOL、动态范围、FFT以及其他高级测量工具库
SW-ACR 增加声学响应测量
SW-ALL HST+AML+ACR
测量参数：
APX515测量功能
| 音频测量： | 声学测量： |
| 1、输出电压 | 1、频响曲线（灵敏度）SPL |
| 2、功放增益 | 2、失真 |
| 3、输出功率 | 3、极性 |
| 4、总谐波失真 | 4、声学相位 |
| 5、频率响应 | 5、异音Rub & Buzz 检测 |
| 6、分离度/串扰 | 6、T/S参数 |
| 7、信噪比 | 7、阻抗曲线及音圈直流电阻 |
| 8、底噪 | 8、空气泄露检测 |
| 9、相位 | 9、瀑布和极化图 |
| 10、互调失真 | 10多次谐波 |
| 11、动态范围 |
|
| 12、共模抑制比 |
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| 13、直流偏移 |
|
| 系统性能指标 | |
| 残余THD+N | 典型值＜-105dB(1k Hz，1V) |
| 信号发生器 | |
| 频率范围 | 0.1Hz ~ 80K Hz |
| 频率精度 | 3 ppm |
| zui大幅度 | 平衡16Vrms，非平衡7.5Vrms |
| 幅度精度 | ±0.05dB |
| 平坦度（20Hz~20KHz） | ±0.01dB |
| 通道 | 平衡×2，非平衡×2，共模；数字平衡×1，非平衡×1，光纤×1 |
| 输出阻抗 | 平衡 100Ω/600Ω，非平衡50Ω/600Ω |
| 信号分析仪 | |
| zui大输入 | 130Vpp |
| zui大带宽 | ＞90KHz |
| 幅度精度 | ±0.05dB(1kHz) |
| 平坦度（20Hz~20KHz） | ±0.01dB |
| 残余输入噪声（20k Hz BW） | 1.4uV |
| 单次谐波分析 | 2次~10次 |
| zui大FFT长度 | 1024k |
| 互调失真支持 | SMPTE,MOD,DFD |
| 通道 | 模拟平衡×2，非平衡×2；数字平衡×1，非平衡×1，光纤×1 |
| 输入阻抗 | 平衡 600Ω/200kΩ，非平衡600Ω/100kΩ |
