LX9600分立器件动态参数测试系统是半导体分立器件动态参数测试的设备, 用于MOSFET、IGBT、快恢复二极管、双极型三极管的动态参数测试。测试原理符合相应的国家标准、国家用标准，系统为模块化、开放式结构，具有升级扩展潜能。

LX9600分立器件动态参数测试系统系统特点

　　PC机为系统的主控机

　　◆ 菜单式测试程序编辑软件操作简便

　　◆ 正负脉冲激励源

　　◆ 美国Lecroy 400M存储示波器用于时间测量，zui小时间测量分辨率200pS

　　◆ 漏极电压达600V

　　◆ 漏极电流达200A

　　◆ 通过IEEE488接口连接校准数字表传递国家计量标准对系统进行校验

　　◆ Prober接口、Handler接口可选(16Bin)

　　◆ 可为用户提供丰富的测试适配器

　　测试参数

　　开启时间Ton; 关断时间Toff;延迟时间Td;

　　存储时间Ts; 上升时间Tr; 下降时间Tf;

　　二极管反向恢复时间Trr;

　　栅极总电荷Qg;栅源充电电量Qgs;栅漏充电电量Qgd等参数。

测试对象

　　二极管： BVR、IR、VF、VZ、RZ

　　三极管： BVCBO、BVCEO、BVCES、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、 ICES、ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBESAT、VCESAT

　　可控硅： BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、

　　IH、IL、VGT、VON

　　场效应管： BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVGDS、BVGSO、BVGSS、GFS、IDSO、IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS(on)、VDS(on)、VGS、VGS(th)、VP

　　IGBT： BVCES、BVCGR、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VGS(off)

　　达林顿矩阵：ICEX、 IIN(ON)、 IIN(Off)、 VIN(on)、 IR、VCESAT、BVR、HFE、ICEO

　　单结晶体管：Iv、Vv、IP、VP、VEB1、ETA、RBB、IEB1O、IB2

　　光敏二、三极管：ID、IL、VOC、 ISC、BV、BVCE

　　光 耦： CTR、BVECO、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBESAT、VCESAT、IR、IAKF、IAKR