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武汉东隆科技有限公司自研的光矢量分析仪OCI-V其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。该系统采用光路设计以及*算法，实现智能校准，操作简单，极大节省测试时间。
特点：
• 自校准
• 测量长度：200m
• 波段：C+L、O波段（可选）
• 1秒内测量多种光学参数
应用：
•平面波导器件、硅光器件、光纤器件。
• 波长可调器件、放大器、滤波器。
• 测量参数：偏振相关损耗PDL，偏振模色散PMD，插损IL，群延时GD，色散CD，琼斯矩阵参数，光学相位。
参数：
主要参数 | ||||
标准模式 | 高动态范围模式 | |||
测量长度1 | 200 | m | ||
波段 | C+L 波段：1525~1625；O 波段：1265~1340 | nm | ||
波长分辨率 | 1.6 | pm | ||
波长精度 | ±1.0 | pm | ||
损耗（IL） | ||||
动态范围 | 60 | 80 | dB | |
插损精度 | ±0.1 | ±0.05 | dB | |
分辨率 | ±0.05 | ±0.002 | dB | |
回损精度 | ±0.1 | dB | ||
群延时 （GD) | ||||
量程 | 6 | ns | ||
精度 | ±0.2 | ±0.1 | ps | |
损耗范围 | 45 | 60 | dB | |
色散（CD） | ||||
精度 | ±10 | ±5 | ps/nm | |
偏振相关损耗（PDL) | ||||
动态范围 | 40 | 50 | dB | |
精度 | ±0.05 | ±0.03 | dB | |
偏振模色散（PMD） | ||||
量程 | 6 | ns | ||
精度 | ±0.1 | ps | ||
损耗范围 | 40 | 50 | dB | |
硬件 | ||||
主机功率 | 60 | W | ||
通讯接口 | USB | - | ||
光纤接口 | FC/APC | - | ||
尺寸 | W 345 * D 390 * H 165 | mm | ||
重量 | 7.5 | kg | ||
储存温度 | 0 ~ 50 | ℃ | ||
储存与工作温度 | 10 ~ 40 | %RH | ||
定制功能2 | ||||
测量长度 | 100 | m | ||
空间分辨率 | 10μm@50m | 20μm@100m | μm | |
回损测量范围 | -125 ~ 0 | dB | ||
插损动态范围 | 18 | dB | ||
插、回损分辨率 | 0.05 | dB | ||
插、回损精度 | ±0.1 | dB | ||
备注：
1.透射模式测量长度200m，可拓展反射模式，测量长度为100m；
2.光矢量分析仪(OCI-V)可拓展OFDR功能，测量光纤链路。
