OLI是一款低成本高精度光学链路诊断系统。其原理基于光学相干检测技术，利用白光的低相干性可实现光纤链路或光学器件的微损伤检测。通过读取最终干涉曲线的峰值大小，精确测量整个扫描范围内的回波损耗，进而判断此测量范围内链路的性能。

该系统轻松查找并精准定位器件内部断点、微损伤点以及链路连接点。其事件点定位精度高达几十微米，可探测到-80dB光学弱信号，广泛用于光纤或光器件损伤检测以及产品批量出货合格判定。

　　特点：

• 可定制扫描测量长度

• 支持多通道测量升级

• 高采样分辨率和定位精度

• 可定制引纤长度，便于匹配实际测量环境

  
  

　　应用：

• 光纤微裂纹检测

• 产线自动化检测

• FA光纤阵列链路性能检测
  

• 硅光芯片、PLC波导瑕疵损耗检测

• 光器件、光模块内部耦合点、连接点性能检测
  

  
  

　　光纤微裂纹检测仪的参数：

备注：

1.测量长度指设备最大测量长度，在该最大测量长度内可任意选择测量区间段；

2.测量时间与测试长度相关，可任意选择扫描长度，测量时间1s@2cm、15s@90cm；

3.标准版引纤长度为5m，可定制其他长度。