随着药物晶型监管力度逐步增加，单纯的定性分析原料药API或制剂中的晶型已不能满足质量研究的要求，对药物制剂中的有效晶型的定量分析，是药物生产中质量控制过程中非常重要的环节。 X 射线粉末衍射可用于定量混合物中结晶相的强大技术，其可以提供每个物相 0.1 - 1 wt.% 的检出限，广泛应用于制药工业、材料学研究等工业、学术应用的定量分析。目前对于药物制剂中的晶型或是杂质定量分析方法有标准曲线法（图1）， Rietveld全谱拟合法（图2）等。除了常规的定量分析PXRD还能对药物制剂进行结晶度的分析（图3）。 

（图1）不同含量的杂质晶型的XRPD图谱，标准曲线

（图2） Rietveld全谱拟合定量分析碳酸镧药物中碱式碳酸镧晶型I（HC(I)）和晶型II（HC(II)）的含量

（图3） 药物样品结晶度分析