德国FOERSTER涡流探伤仪。德国Institut Dr. Foerster GmbH Co. KG由Dr. Foerster创办以来，迄今已经有50余年的历史，一直以来对产品技术不断的革新和发展是公司成长的源动力，也是这个家族企业一直发展至今的秘诀.主要产品有FOERSTER涡流探伤仪、FOERSTER质谱仪、FOERSTER电路板等FOERSTER无损探伤仪产品及备品备件.主要产品有福斯特FOERSTER涡流探伤仪、福斯特FOERSTER质谱仪、FOERSTER电路板等FOERSTER无损探伤仪产品及备品备件
 

斜探头 超声波探伤仪斜探头可发射及接收横波。斜探头主要由压电晶片、阻尼块和斜楔块组成。晶片产生纵波，经斜楔倾斜入射到被测工件中，转换为横波。斜楔为有机玻璃，被测工件为钢，斜探头的角度（即入射角）在28°~61°之间时，在钢中可产生横波。斜楔的形状应使声波在斜楔中传播时不得返回晶片，以免出现杂波。直探头在液体中倾斜入射工件时，也能产生横波。

  表面探头波 可发射和接收表面波。表面波探头是斜探头的一个特例。当入射角增大到某一角度，使在工件中横波的折射角为90°时，在工件中可产生表面波，直探头在液体中倾斜入射工件时，也能产生表面波。

  兰姆波探头 可发射和接收兰姆波，也是斜探头的一个特例。当入射角达到一定角度时，在工件中产生兰姆波，直探头在液体中倾斜入射工件时，也能产生兰姆波。

  可变角探头 可变角探头可连续改变入射角，以产生纵波，横波，表面波和兰姆波。压电晶片固定在半圆楔块上，半圆楔快又置于大楔块的圆洞内，空隙处注有油，以作导声耦合剂。半圆楔块转动时，入射角即改变。

  双探头 超声波探伤仪双探头又称组合探头，两块压电晶片装在一个探头架内，一个晶片发射，另一个接收。双探头发射及接收纵波，晶片下的延迟块使声波延迟一段时间后射入工件，这样可探测近表面的缺陷并可提高分辨力。两块晶片有一倾角（一般约3°~18°），两晶片声场重合部分（阴影部分），是探伤灵敏度较高的部位。

型号：

 FOERSTER探伤仪探头6.044.11-6770-01,1474987

 FOERSTER探伤仪探头6.044.11-6770-01,1474987