ELCOMETER 456涂层测厚仪

ELCOMETER 456涂层测厚仪

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2024-10-22 21:14:57
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产品简介

手持金属探测器被设计用来探测人或物体携带的金属物。它可以探测出人所携带或包裹、行李、信件、织物等内所带武器、或小块金属物品。其敏感表面的特别外观令操作简便易行。优于环形传感器式手探。超高灵敏度,特殊应用。如芯片厂,考古研究医院等 技术特性ELCOMETER 456涂层测厚仪

详细介绍

ELCOMETER 456涂层测厚仪

ELCOMETER 456涂层测厚仪

 

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Flexa 5020.049.211 RQG1-PG11
ETA ETA ESS22-TA000-DC24V-6A
siemens 6DD2920-0AV0
hydac 压力继电器 EDS 3446-2-0100-000  
FIPA GmbH 接头 30.052  
BARUFFALDI Clutch seal kit 56.0200.221.01 for tbma200
Mader Nr.219125
Fraba 编码器 OCD-DPC1B-1212-C100-H3P  
  1551951
EPCOS u33J63 Parameters: 330nF, + / -5%; blue film package: DIP, approximately 5.1mm pin pitch
Knick 信号隔离器 P27000F1  
Kroeplin 644M-606
Honigmann tensiotron TS621
heidenhain ERN1020 1000 01-03 IDNr.317 750-06
rexroth R918A03112 AZPFF-11-011/011RCB2020MB
VISION 09A0001E
Bently 330106-05-30-10-02-00
AVS-ROEMER EGV-311/V2-AH9-1/2PN PN16/8 DN13 G036
ROFIN-LASAGLASERS 喷嘴 453645  
Lumberg 模块 0940PSL001  
Destaco 240208-M
Turck 接近开关 Bi4-M12-AP6X-H1141 Nr:46070  
Bender GmbH STW2 
balluff Plug?? BKS-S33M-00?? right
gwk 主板 9070750  
HEIDENHAIN ENCODER|ROD4861VSS2048STRICHE,376886-31
DUPLOMATIC Hydraulic cylinder CODICE C80186X HC2D-100/45-75-K/20 (DUPLOMATIC)
HBM EWA30/30/30/24/6
Walther LP-012-2-DV15 V 
pilz PNOZ s4 24VDC 3 n/o 1 n/c 750104
SCHUNK 371103
VICKERS DGMPC-5-ABM-BAM-30 
  055.000.5 0890313
MultiQ MQ172POS/KBA CODE.FPD100327R6C S/N.5514C07130082
VAHLE 299488
SIEMENS 电缆 6DD1684-0BC0  
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Honsberg 流量开关 CRG-025HMS  
KSB MKY-G20-3/190
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Turck 流量计 FCS-G1/2A4P-LIX-H1141/D037 Nr:6870058  
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gessmann 013C0725 101
MP Filtri EGE3RP
VOGEL MFE5-BW7-V7IF 
SKF TMFT 36??600mmx800mmX200mm
SOCOMEC IRCOM100/4P
suco 压力开关 0159-433-141-001(set 23Mpa)  
SFERO LR 16
ARI DN50 FIG22.046
CEAI ELETTRONICA S.r.l. AL519 
Gemue 阀门 695 25D 8181411/N  
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LEGRAND Socket outlet 2P+T - 16A 004280
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GLACIER BB 0806 DU
BREVETTI STENDALTO SR30016 Course: 900
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MINIBOOSTER NS06, SANDWICH PLATE, I=4,0,QE=14 L/MIN, QA=2,0 L/MIN,MINI BOOSTER HC3-4,0-B MINIBOOSTER
PHOENIX 3200904
GUTEKUNST D-103 
gatterbauer messtechnik TC-TEST-II AU-09290 
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JUMO 温控器 60001522 ATH-70 TN 60001522 786946  
Turck 附件 P1-Li-Q25L Nr:6901041  
DRELLO 1091K 0810.1091K181
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BURKERT 8045-FKM-INO LONG SST 18-36V 4-20mA
Turck 流量计 FCS-G1/2A4P-LIX-H1141/D037 No.6870058  
BUSH DUF3025
hydac 压力传感器 EDS346-1-250-000  
Beckhoff Automation GmbH 模块 BK3120  
SIEMENS 风机 6SY7000-0AB28  
souriau VGE1D28-21SZ
MP FILTRI 8HP3201A10ANP01 
DESTACO 82E50-141C505
SchaefflerKG NU-2310-E  
scm 0370030100C   H130828050160  
MURR Power Module MPS10-230/24  
Hengstler AC110-0014EB.4H50SB-B-K0  
KTR GR28  
REXROTH HEDE10A1-2X/250/K41G24/1/V  
ZIEHL-ABEGG GR31M-2DK 5H 2R;120621  
Rexroth R900131218 MG10  
HAHN+KOLB 75044-600  H130821048751  
DELFIN BRUSH/AA2592  
convertec batt174 166v dc/1A  
JAQUET P/F ??JAQUET?? SPEED MEASUREMENT AND,SWITCHINH INSTRUMENTS ,REE JAQUET LTD.SWITZERLAND, JAQUET,STAHL SPEED PICK-UP ,P/N FTG-285.01A568  
BPS 33 接近开关 SCHMERSAL
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9407-998-00031 有接头电缆 PMA Prozess- und Maschinen-Automation GmbH
MT 60K 60 0,5 30mm 02 02S09 01 A,ID Nr.359341-04 光栅尺 heidenhain
EXHEAT HBX 2\\18D 2kw 220V 1Ph IP66 W34769?1  
7000-40141-6150200  
SIHI SIHI LEMB 16196B3N OA7 XW0-07-105337-01  
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EP 145/500 磁块 FELEMAMG
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Freescale MPXV5004GC6U  I130822049038  
smw smw 017869聽  
elmo G-WHI 15/100SR-EET  
TRANSNORM SYSTEM U401705 E-Spezifikation-Nr.: U401705-V0088 Nennradius/Innenradius 1200mm Nennbreite 800 mm Nennwinkel/Steigungswinkel90 Grad Gurttyp KT 94   H121106048984
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Georg Fischer Assembly kit 543 PPGF d40-D50 198150182  
pepperl+fuchs NBB5-F33M-A2   S120920041910  
schunk PWG-40-S  
INDEL LBH71  
KISTLER 6115BFD34Q01A41  
SIMA GS2000 24 SENSOR N?? 3 GR LEFT  
7ML1201-1EK00 液位计 SIEMENS
Leonrd+Bauer Type: GEL235DP1212CQS10  
Behr 84715 A6110780079  
Typ KAA-1300-A Hoechstdruck 100 bar 涂胶阀 krautzberger
TITAN 2410002-1403  H121107049110  
SLL-55-40 40 201 夹紧元件 Montech
foerster 2.891.13-6145  S130822049081  
schneider JN15-12/T31.5-80   S130828050211  
PF 65.000,NO:11665102055 风扇 PFANNENBERG
FP10-21-1-NH 热交换器 Funke

 

X射线测厚仪:利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,达到要求的轧制厚度。主要应用行业:有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工.

纸张测厚仪:适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。

薄膜测厚仪:用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测量范围宽、测量精度高,具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。

超声波测厚仪:超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度。

X射线测厚仪:适用生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业,可以与轧机配套,应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中,x射线测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。

涂层测厚仪F型探头可直接测量导磁材料(如钢铁、镍)表面上的非导磁覆盖层厚度(如:油漆、塑料、搪瓷、铜、铝、锌、铬、等)。可应用于电镀层、油漆层、搪瓷层、铝瓦、铜瓦、巴氏合金瓦、磷化层、纸张的厚度测量,也可用于船体油漆及水下结构件的附着物的厚度测量。

涂层测厚仪:

涂层测厚仪涂层测厚仪涂层测厚仪采用电磁感应法测量涂层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路,随着探头与铁磁性材料间的距离的改变,该磁回路将不同程度的改变,引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离,即涂层厚度。

涂层测厚仪具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);

具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(APPL);

设有五个统计量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)

涂镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型:

1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢,铁,银,镍。此种方法测量精度高。

2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种较磁性测厚法精度低。

3.超声波测厚法:适用多层涂镀层厚度的测量或者是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵,测量精度也不高。

4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层,一般精度也不高。测量起来比较其他几种麻烦。

5.放射测厚法:此处仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些特殊场合。

国内目前使用较为普遍的是第1/2两种方法。

激光测厚仪:

板材(钢坯)激光厚度检测系统具有、成本低、便于维护等特点,激光测厚仪是通过采用自主激光检测技术及可靠的防护措施研制而成的,*热轧板坯厚度检测的需求。

激光测厚仪是基于三角测距原理,使用集成式的三角测距传感激光测厚仪原理激光测厚仪原理器测量出从安装支架到物体表面的距离,进而根据支架的固定距离计算得出物体的厚度。

激光束在被测物体表面上形成一个很小的光斑,成像物镜将该光斑成像到光敏接收器的光敏面上,产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时,其表面上光斑相对成像物镜的位置发生改变,相应地其像点在光敏器件上的位置也要发生变化,进而可计算出被测物体的实际移动距离。

X射线测厚仪:利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,达到要求的轧制厚度。主要应用行业:有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工.

纸张测厚仪:适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。

薄膜测厚仪:用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测量范围宽、测量精度高,具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。

超声波测厚仪:超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度。

X射线测厚仪:适用生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业,可以与轧机配套,应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中,x射线测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。

涂层测厚仪F型探头可直接测量导磁材料(如钢铁、镍)表面上的非导磁覆盖层厚度(如:油漆、塑料、搪瓷、铜、铝、锌、铬、等)。可应用于电镀层、油漆层、搪瓷层、铝瓦、铜瓦、巴氏合金瓦、磷化层、纸张的厚度测量,也可用于船体油漆及水下结构件的附着物的厚度测量。

涂层测厚仪:

涂层测厚仪涂层测厚仪涂层测厚仪采用电磁感应法测量涂层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路,随着探头与铁磁性材料间的距离的改变,该磁回路将不同程度的改变,引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离,即涂层厚度。

涂层测厚仪具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);

具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(APPL);

设有五个统计量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)

涂镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型:

1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢,铁,银,镍。此种方法测量精度高。

2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种较磁性测厚法精度低。

3.超声波测厚法:适用多层涂镀层厚度的测量或者是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵,测量精度也不高。

4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层,一般精度也不高。测量起来比较其他几种麻烦。

5.放射测厚法:此处仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些特殊场合。

国内目前使用较为普遍的是第1/2两种方法。

激光测厚仪:

板材(钢坯)激光厚度检测系统具有、成本低、便于维护等特点,激光测厚仪是通过采用自主激光检测技术及可靠的防护措施研制而成的,*热轧板坯厚度检测的需求。

激光测厚仪是基于三角测距原理,使用集成式的三角测距传感激光测厚仪原理激光测厚仪原理器测量出从安装支架到物体表面的距离,进而根据支架的固定距离计算得出物体的厚度。

激光束在被测物体表面上形成一个很小的光斑,成像物镜将该光斑成像到光敏接收器的光敏面上,产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时,其表面上光斑相对成像物镜的位置发生改变,相应地其像点在光敏器件上的位置也要发生变化,进而可计算出被测物体的实际移动距离。

X射线测厚仪:利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,达到要求的轧制厚度。主要应用行业:有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工.

纸张测厚仪:适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。

薄膜测厚仪:用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测量范围宽、测量精度高,具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。

超声波测厚仪:超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度。

X射线测厚仪:适用生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业,可以与轧机配套,应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中,x射线测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。

涂层测厚仪F型探头可直接测量导磁材料(如钢铁、镍)表面上的非导磁覆盖层厚度(如:油漆、塑料、搪瓷、铜、铝、锌、铬、等)。可应用于电镀层、油漆层、搪瓷层、铝瓦、铜瓦、巴氏合金瓦、磷化层、纸张的厚度测量,也可用于船体油漆及水下结构件的附着物的厚度测量。

涂层测厚仪:

涂层测厚仪涂层测厚仪涂层测厚仪采用电磁感应法测量涂层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路,随着探头与铁磁性材料间的距离的改变,该磁回路将不同程度的改变,引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离,即涂层厚度。

涂层测厚仪具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);

具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(APPL);

设有五个统计量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)

涂镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型:

1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢,铁,银,镍。此种方法测量精度高。

2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种较磁性测厚法精度低。

3.超声波测厚法:适用多层涂镀层厚度的测量或者是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵,测量精度也不高。

4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层,一般精度也不高。测量起来比较其他几种麻烦。

5.放射测厚法:此处仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些特殊场合。

国内目前使用较为普遍的是第1/2两种方法。

激光测厚仪:

板材(钢坯)激光厚度检测系统具有、成本低、便于维护等特点,激光测厚仪是通过采用自主激光检测技术及可靠的防护措施研制而成的,*热轧板坯厚度检测的需求。

激光测厚仪是基于三角测距原理,使用集成式的三角测距传感激光测厚仪原理激光测厚仪原理器测量出从安装支架到物体表面的距离,进而根据支架的固定距离计算得出物体的厚度。

激光束在被测物体表面上形成一个很小的光斑,成像物镜将该光斑成像到光敏接收器的光敏面上,产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时,其表面上光斑相对成像物镜的位置发生改变,相应地其像点在光敏器件上的位置也要发生变化,进而可计算出被测物体的实际移动距离。

X射线测厚仪:利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,达到要求的轧制厚度。主要应用行业:有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工.

纸张测厚仪:适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。

薄膜测厚仪:用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测量范围宽、测量精度高,具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。

超声波测厚仪:超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度。

X射线测厚仪:适用生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业,可以与轧机配套,应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中,x射线测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。

涂层测厚仪F型探头可直接测量导磁材料(如钢铁、镍)表面上的非导磁覆盖层厚度(如:油漆、塑料、搪瓷、铜、铝、锌、铬、等)。可应用于电镀层、油漆层、搪瓷层、铝瓦、铜瓦、巴氏合金瓦、磷化层、纸张的厚度测量,也可用于船体油漆及水下结构件的附着物的厚度测量。

涂层测厚仪:

涂层测厚仪涂层测厚仪涂层测厚仪采用电磁感应法测量涂层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路,随着探头与铁磁性材料间的距离的改变,该磁回路将不同程度的改变,引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离,即涂层厚度。

涂层测厚仪具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);

具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(APPL);

设有五个统计量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)

涂镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型:

1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢,铁,银,镍。此种方法测量精度高。

2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种较磁性测厚法精度低。

3.超声波测厚法:适用多层涂镀层厚度的测量或者是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵,测量精度也不高。

4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层,一般精度也不高。测量起来比较其他几种麻烦。

5.放射测厚法:此处仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些特殊场合。

国内目前使用较为普遍的是第1/2两种方法。

激光测厚仪:

板材(钢坯)激光厚度检测系统具有、成本低、便于维护等特点,激光测厚仪是通过采用自主激光检测技术及可靠的防护措施研制而成的,*热轧板坯厚度检测的需求。

激光测厚仪是基于三角测距原理,使用集成式的三角测距传感激光测厚仪原理激光测厚仪原理器测量出从安装支架到物体表面的距离,进而根据支架的固定距离计算得出物体的厚度。

激光束在被测物体表面上形成一个很小的光斑,成像物镜将该光斑成像到光敏接收器的光敏面上,产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时,其表面上光斑相对成像物镜的位置发生改变,相应地其像点在光敏器件上的位置也要发生变化,进而可计算出被测物体的实际移动距离。

X射线测厚仪:利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,达到要求的轧制厚度。主要应用行业:有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工.

纸张测厚仪:适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。

薄膜测厚仪:用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测量范围宽、测量精度高,具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。

超声波测厚仪:超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度。

X射线测厚仪:适用生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业,可以与轧机配套,应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中,x射线测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。

涂层测厚仪F型探头可直接测量导磁材料(如钢铁、镍)表面上的非导磁覆盖层厚度(如:油漆、塑料、搪瓷、铜、铝、锌、铬、等)。可应用于电镀层、油漆层、搪瓷层、铝瓦、铜瓦、巴氏合金瓦、磷化层、纸张的厚度测量,也可用于船体油漆及水下结构件的附着物的厚度测量。

涂层测厚仪:

涂层测厚仪涂层测厚仪涂层测厚仪采用电磁感应法测量涂层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路,随着探头与铁磁性材料间的距离的改变,该磁回路将不同程度的改变,引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离,即涂层厚度。

涂层测厚仪具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);

具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(APPL);

设有五个统计量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)

涂镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型:

1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢,铁,银,镍。此种方法测量精度高。

2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种较磁性测厚法精度低。

3.超声波测厚法:适用多层涂镀层厚度的测量或者是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵,测量精度也不高。

4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层,一般精度也不高。测量起来比较其他几种麻烦。

5.放射测厚法:此处仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些特殊场合。

国内目前使用较为普遍的是第1/2两种方法。

激光测厚仪:

板材(钢坯)激光厚度检测系统具有、成本低、便于维护等特点,激光测厚仪是通过采用自主激光检测技术及可靠的防护措施研制而成的,*热轧板坯厚度检测的需求。

激光测厚仪是基于三角测距原理,使用集成式的三角测距传感激光测厚仪原理激光测厚仪原理器测量出从安装支架到物体表面的距离,进而根据支架的固定距离计算得出物体的厚度。

激光束在被测物体表面上形成一个很小的光斑,成像物镜将该光斑成像到光敏接收器的光敏面上,产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时,其表面上光斑相对成像物镜的位置发生改变,相应地其像点在光敏器件上的位置也要发生变化,进而可计算出被测物体的实际移动距离。

 


易高牌 456 系列数字涂层厚度计  
* 工作原理:铁基( F )用电磁感方式测量 
   非铁基( NF )用电涡流方式测量 
* zui小基层物料厚度只需要 300 μ m 
* 准确度是± 1-3% 或± 2.5 μ m ( F1 、 N1 探头) 
* 多种语言选选择,包括中文,英文,日文等 
* 多种附设功能包括简单统计功能,背灯,公制及英制单位等 

积体式(连探头)仪表型号 
积体式—优点是较经济及轻便,可单手操作 

 

类型

基材

型号

量程

特点

基本型 
Basic

铁基(F)

A456FBI1

0-1500 μ m

简单统计功能,背灯,公制及英制单位

A456FBI2

0-5mm

A456FBI3

0-13mm

非铁基(NF)

A456NBI1

0-1500 μ m

铁基 / 非铁基(FNF)

A456FNFBI1

0-1500 μ m

标准型 Standard

铁基

A456FSI1

0-1500 μ m

除基本型的功能外,另附记忆读数 250 个 1 组分批记忆,软件及连线

A456FSI2

0-5mm

非铁基(NF)

A456NSI1

0-1500 μ m

铁基 / 非铁基(FNF)

A456FNFSI1

0-1500 μ m

高级型
Top

铁基

A456FTI1

0-1500 μ m

除基本型的功能外另附记忆读数 40000 个 999 组分批记忆附软件及接线

非铁基(NF)

A456NTI1

0-1500 μ m

铁基 / 非铁基(FNF)

A456FNFTI1

0-1500 μ m

 

 

 

 

 

    
   

 

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