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X射线镀层膜厚仪是专业测试金属镀层厚度的无损检测仪器,应用良好的三维测试平台,多点测试,对微小的产品进行准确的分析,天瑞仪器THICK8000X射线镀层膜厚仪打破了国外垄断的局面,成为国内独树一帜的品牌企业。
天瑞X射线镀层膜厚仪技术指标
X射线激发源:5OKV/1000μA-钨靶X光管及高压电源
探测器及分辨率:SDD探测器,分辨率140±5eV
分析元素范围:原子序数16(S)~92(U)
分析元素及层数:一次可同时分析多达24种元素及5层镀层
分析厚度范围:检测覆盖层厚度一般在50μm以内
检出限:镀层金属元素厚度薄可达0.005μm
定位精度:0.001mm
测量时间:10s及以上
样品平台移动范围:120mm×120mm
样品腔升降平台移动高度:0~150mm
工作环境要求
工作电源:交流220±5V
周围不能有强电磁干扰
环境温度要求:15℃~30℃
环境相对湿度:<70%
天瑞X射线镀层膜厚仪性能优势
1.精密的三维移动平台
2.的样品观测系统
3.良好的图像识别
4.轻松实现深槽样品的检测
5.四种微孔聚焦准直器,自动切换
6.双重保护措施,实现无缝防撞
7.采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度
全自动智能控制方式,一键式操作!
开机自动自检、复位;
开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样;
关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦;
售后服务
技术服务的响应期限:提供有效的技术服务,在接到用户故障信息后,4小时内响应;如有必要,12~72个小时内派人上门维修和排除故障。
部分产品
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