天瑞仪器Thick800A型X荧光金属镀层测厚仪仪器配置

开放式样品腔 
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动 
双激光定位装置 
铅玻璃屏蔽罩 
Si-Pin探测器 
信号检测电子电路 
高低压电源 
X光管 
高度传感器 
保护传感器 
计算机及喷墨打印机

性能优势

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求 
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求 
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度 
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐 
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点 
高分辨率探头使分析结果更加精准 
良好的射线屏蔽作用 
测试口高度敏感性传感器保护

天瑞仪器Thick800A型X荧光金属镀层测厚仪技术指标

元素分析范围：硫（S）～ 铀（U） 
同时检测元素：多24个元素，5层镀层 
检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm
分析含量：2ppm～99.9%
镀层厚度：50μm以内（每种材料有所不同） 
任意多个可选择的分析和识别模型 
相互独立的基体效应校正模型 
多变量非线性回收程序 
重复性：可达0.1%
稳定性：可达0.1%
操作环境温度：15℃～30℃ 
电源：交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源 
外观尺寸： 576（W）×495（D）×545（H）mm 
重量：90kg