EDX-GP 能量色散型X射线荧光分析仪
产品信息
能量色散型X射线荧光分析装置 EDX-GP是较适合用于RoHS/ELV/无卤素法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。
*次使用，也能轻松操作，操作简便且以更高的精度进行微量分析，达到高灵敏度与佳分辨率的*结合。
EDX-GP 能量色散型X射线荧光分析仪标准配置RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能，用户无需购买特殊选购件，使可以获得佳RoHS/ELV/无卤素分析系统 。
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 | 利用［筛选分析］画面、操作简单方便 | | 从主成分判定到条件选择全部实现自动处理 | | 利用自动测定结束功能、缩短测定时间 |
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| 高灵敏度·高分辨率·高精度 | | 快速、高灵敏度测定微量元素 |
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| 标准配备了RoHS/ELV/无卤素分析所需的各种功能 |  | 超大样品室，可以直接测试大型样品 |
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 | | | 操作简便，一个指令即可开始全自动测定。
测定条件的选择过去一直依赖操作者的判断，现在改由装置自动判断，即使初学者也可简便·高精度地测定。 |
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| ● | 将样品放在分析位置，利用样品图像观察装置确认分析位置。 | | ● | 选择分析区域。 | | ● | 关闭样品室。 |
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| ● | 一个画面中可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。 | | ● | 点击开始。 |
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| ● | 测定结束后，画面上将清楚显示5种元素的［合格判定］、［含量］、［3σ（测定偏差）］。 | | ● | 点击即可显示［结果列表］或［创建报告书］。 |
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 | | | 只需1次点击，便可根据预先登录的分析条件，
自动执行从测定到结果的一系列操作。 |
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 | | | | 不含有害元素时，测定过程中能够判定结果时，即自动终止测定，缩短分析时间。 |
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不含有害元素时 |  | | 不含有害元素时，测定过程中能够判定结果时，即自动终止测定，缩短分析时间。 |
| ■ 适用省时功能的缩短时间示例 | | |  | | | |
含量低于检出下限值时，判断不含有，测定自动结束。上述样品中Pb、Cd的含量均低于检出下限，与设定的200秒（=100秒＋100秒）分析时间相比，仅用了50秒（=25秒＋25秒）即结束分析，大幅度节约了时间。 | | |
| 有害元素含量高时 | | 由设定的目标管理精度自动决定测定时间。
在测定精度达到管理值时结束测定。 |
| ■ 适用省时功能的缩短时间示例 | | |  | | | 测定高浓度元素时，在比设定的测定时间更短的时间内即可获得高强度，而且误差变小，由此可以大幅缩短时间。上述样品中Pb：7600ppm、Cd：52ppm,设定的分析时间为200秒（=100秒＋100秒），实际仅用了40秒（=15秒＋25秒）即结束分析，大幅度节约了时间。 |
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 | | | | 本装置配置了RoHS/ELV检测中*高的EDX－720型的半导体检测器、滤光片及高计数率电路。 |
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利用滤光片提高灵敏度／还可以进行高灵敏度的无卤素分析 | | | 标准配备了5种滤光片，可降低、除去形成背景成分的X射线管的散射线，提高检测灵敏度。 本装置在RoHS/ELV/无卤素分析中会自动选择3种合适的滤光片，进行高灵敏度测定。 |
| | | 受X射线管Rh的特征X射线影响的Cl也可以测定 | | |  | | | | 微量成分：Cl（除去特征X射线） |
利用滤光片提高检测灵敏度 | | |  | | | 微量成分：Pb（背景降低） |
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滤光片条件灵活，满足客户要求 | | | | 如果您希望在短时间内对多个样品进行测定，推荐使用单个滤光片进行高速分析。 |
| | <由单个滤光片进行高速分析> 测定时间：100秒 | | |  |
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如果您希望对微量元素进行高灵敏测定，可以选择各种滤光片进行高灵敏度分析。
与单个滤光片高速分析相比，灵敏度约提高2～3倍。 |
| | <由滤光片进行高灵敏度分析>
测定时间：300秒（100秒×3通道） | | |  | | |  | | | |
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| EDX-GP标准配备了RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能，用户无需购买特殊选购件，就可以获得佳RoHS/ELV/无卤素分析系统。 |
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| 超大样品室可以对应各种样品形态及大小。 |
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采用超大样品室 | | | | 大可以放置370mm长×320mm宽×155mm高的大型样品，令紧凑型机身*。 |
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