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透射电镜高倾角冷冻传输系统
透射电镜高倾角冷冻传输系统以创新设计及加工工艺，在TEM内搭建液氮冷冻模块，可在超低温条件下观察样品原位相变等关键信息。可减少样品污染和电子束损伤，减少热效应，有助EDS、EELS等分析。 参考价面议 -
扫描电镜高温原位系统-基础版
扫描电镜加热原位系统通过MEMS芯片对样品施加热场控制，在原位样品台内构建热场自动控制及反馈测量系统，结合EDS、EBSD等多种测试模式，实现从纳米甚至原子层面实时、动态监测样品在真空环境下随温度变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的原子级结构和成分演化等关键信息。 参考价面议 -
扫描电镜液体热电原位系统
扫描电镜液体热电原位系统采用MEMS微加工工艺在原位样品台内构建液氛纳米实验室，通过MEMS芯片对薄层或纳米电
池系统施加热场和电信号等，结合使用EDS等多种不同模式，实现从纳米层面实时、动态监测电极、电解液及其界面在液氛
环境中随温度、电信号变化产生的微观结构演化、反应动力学、相变、化学变化、表/界面处的结构和成分演化等关键信息。 参考价面议 -
透射电镜4孔样品杆
透射电镜4孔样品杆可将最多4个样品同时置入透射电镜中，与市面常见的3孔样品杆相比，大幅提高透射电镜的使用效率。全新的结构设计及超高精度的旋钮换样方式，帮助降低漂移率，提高成像质量。 参考价面议 -
透射电镜双倾探针电学原位系统
透射电镜双倾探针电学原位系统通过纳米探针对样品施加电场控制，结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式，实现从纳米层面实时、动态监测样品在真空环境下随电场变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化等关键信息。 参考价面议 -
透射电镜力电原位系统
透射电镜力电原位系统通过MEMS芯片在原位样品台内构建力、电复合多场自动控制及反馈测量系统，结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式，实现从纳米层面实时、动态监测样品在真空环境下随电场、施加力变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化等关键信息。 参考价面议 -
透射电镜高温力电原位系统
透射电镜高温力电原位系统通过MEMS芯片对样品施加力学、电场、热场控制，在原位样品台内构建力、电、热复合多场自动控制及反馈测量系统，结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式，实现从纳米层面实时、动态监测样品在真空环境下随温度、电场、施加力变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化等关键信息。 参考价面议 -
透射电镜高倾角热电原位系统
透射电镜高倾角热电原位系统通过MEMS芯片对样品施加热场、电场控制，在高倾角样品台内构建热电复合多场自动控制及反馈测量系统，结合使用EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式，实现从纳米甚至原子层面实时、动态监测样品在真空环境下随温度、电场变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的原子级结构和成分演化等关键信息。 参考价面议 -
透射电镜双倾光热原位系统
透射电镜双倾光热原位系统通过MEMS芯片和光纤引入的光源在原位样品台内构建热、光复合多场自动控制及反馈测量系统，结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式，实现从纳米甚至原子层面实时、动态监测样品在真空环境下随温度、光场变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的原子级结构和成分演化等关键信息。 参考价面议 -
透射电镜全角度三维重构样品杆
透射电镜全角度三维重构样品杆在搭载直径3 mm铜网的传统三维重构样品台的基础上延伸，采用弹头的单轴旋转方式进行绕样品台全角度360°观察，可以接受棒状或圆锥形样品。 参考价面议 -
透射电镜三维重构样品杆
透射电镜三维重构样品杆通过一系列的不同倾斜角获得样品的二维成像信息,并对其进行处理转化为三维信息，该样品台可直接组装直径3 mm的铜网样品，不仅可进行样品的三维重构，还可用于样品材料的扫描透射模式下高角环形暗场成像（HAADF-STEM）的高分辨分析。 参考价面议 -
透射电镜液体电化学原位系统
透射电镜液体电化学原位系统通过MEMS芯片对液体薄层或纳米电池系统施加电信号等，结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式，实现从纳米甚至原子层面实时、动态监测电极、电解液及其界面在工况下的微观结构演化、反应动力学、相变、元素价态、化学变化、微观应力以及表/界面处的原子级结构和成分演化等关键信息。 参考价面议