TS MESSTECHNIK 轮廓测试仪  赤象工业代理

T&S在范围内提供检测设备的制造商，为各种复杂程度的检测需要，提供检测方案和服务
传统方案，X和Z测量轴在一个驱动单元，导致有一些限制。
我们的方案是，X轴和Z轴分离X轴承担工件夹持器移动的功能，而Z轴于测针扫描移动，由于两个轴均由电机控制，因此具有很大的优势，无论轮廓的斜率如何，两个轴均得到控制，得以保持轮廓扫描速度不变
 

德国T&S公司——轮廓测试仪、

主要产品：

轮廓测量系统：CounturoMatic系列

TS轮廓测量仪

GS / GM-X轮廓测量仪

TS-X轮廓测量仪

CV120轮廓测量仪

CV300轮廓测量仪

我们的产品线

对中夹具 UZ系列

外圆对中夹具 AZ系列

对中水平放置台 KZT系列

对中夹具 ZS系列

综合支架 WSE系列

角度调整卡 WSF系列

棱柱支撑 WP/WPS系列

TS MESSTECHNIK 轮廓测试仪  赤象工业代理

ConturoMatic
一次测量轮廓和粗糙度
现代轮廓测量系统越来越能够获取和计算粗糙度特征。在具有较大梯度的轮廓线的粗糙度测试中，传统的探测
方法和评估方法日益失败。为了解决这个问题，我们的计算算法从一开始就基于正交回归。该方法结合动态速
度控制（确保数据点距离均匀），可实现精确的测量结果 - 即使在强烈弯曲的表面上。相反，在传统解决
方案中，为了实现恒定的测量点距离，必须通过内插生成实际上不存在的新测量点。
凭借ConturaMatic TS的可选粗糙度软件更新，您的轮廓测量站成为特别强大的
表面测量系统。
所有常用参数都可以自动测量和评估。该软件无缝集成到标准软件中，可以直观地操作。该更新适用于以前ᨀ
供的所有T1， T2和TS系统，包括激活粗糙度软件选项，测点半径为2μm， 角度为60°的粗糙度测试臂以及综合用
户手册。 T2系统必须在工厂进行机械改装。粗糙度选项包含在ConturoMatic TS-X的标准范围内。
可评估的特征:
Pt, Pz, Pa, Pc, Pq, Pp, Pv, Psk, Pku, PSm, Pdq, Pmr(c)
Rt, Rz, Ra, Rc, Rq, Rp, Rv, Rsk, Rku, RSm, Rdq, Rmr(c), Rk, Rpk, Rvk,
Mr1, Mr2, RPc, Rmax (VDA 2006), R3z (DB Werksnorm)
Wt, Wz, Wa, Wc, Wq, Wp, Wv, Wsk, Wku, WSm, Wdq, Wmr(c)
Optional: Dominante Welligkeit nach VDA 2007
可选：根据DIN EN ISO 16610-31 (03/2017)
测试表面的应用标准:
DIN EN ISO 4287:2010-07
DIN EN ISO 4288:1998-04
DIN EN ISO 16610-21:2013-06
DIN EN ISO 13565-1:1998-06
DIN EN ISO 13565-2:1998-06
DIN EN 10049:2014-03
DIN EN ISO 16610-31:2017-03 (Option)
VDA 2006:2003-07
VDA 2007:2007-02 (Option)
DB N 31007 (1983)

CS-陶瓷测针

测试对象和测量设备之间的连接 - 很大程度上未被关注，但仍具有重要意义：
滑动摩擦，弯曲效应和测点形状是影响测量结果的主要因素。
问题:
探针和工件表面之间的滑动摩擦在测量过程中引起弯曲效应。尽管这种影响在很大程度上得到了纠正，但仍然
存在不可检测的残留误差。更糟糕的是，测试的不同材料也会导致偏离弯曲。这些误差无法通过合理的系统努
力予以纠正。正确方案是减少摩擦。
经典测针:
轮廓测量仪器的经典测针的一个弱点是不明显的*形状。各种半径的过渡意味着实际上仅有一点的测点半径
满足了要求。在轴外，不再定义*几何形状。
CS-Keramiktastspitzen:
我们的CS触针大大减少了滑动摩擦，弯曲和*形状所ᨀ到的问题。我们的探针*由高性能陶瓷制成
的，摩擦系数比碳化物低很多倍。*几何形状可防止由于低定位误差导致的错误读数。我们总的测量措施显
着降低测量的不确定性。
优化的*几何形状
方便精确定位
减少对不导电碳化物的摩擦
不可磁化
对积聚边缘有抵抗力
在边界区域中，测针更加安全地进行测量
不变的测针形状
测针几何形状非常精确
始终如一的高质量产品
高科技材料
与传统碳化物相比，减少50％的晶
粒尺寸
*的耐磨性和硬度
减少故障率
降低成本