晶片外观不良视觉检测设备
晶片外观不良视觉检测设备

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参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2019-01-08 14:38:58
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产地类别:国产;
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昆山倍利精密仪器有限公司

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产品简介

晶片外观不良视觉检测设备能够快速准确识别磁芯表面各种微小缺陷如崩缺、擦伤、污点、花面、划痕等。同时能够做到六面识别、分类等功能以及对缺银、弱划痕、弱斑点等检测。

详细介绍

晶片外观不良视觉检测设备应用行业:

磁芯在制程加工步骤中难免会产生缺陷瑕疵,如: 裂纹、崩缺、结晶、脏污不良等等。单靠人力检测的质量控管是无法快速有效率跟上生产速度,更无法精准排除肉眼难判细微瑕疵。倍利精密的磁芯外观缺陷瑕疵视觉AOI(磁芯光学检测筛选机)是取代人力、精准快速、省钱省时间、值得投资的检测设备。
      Magnetic core inductors will inevitably produce defects such as cracks, chipping, crystallization, and poor contamination during the processing steps. The quality control of manpower detection alone cannot quickly and efficiently keep up with the production speed, and it is impossible to accurately eliminate the subtle flaws of the naked eye. The Beili Vision Precision AOI (Optical Inspection Screening Machine) is a testing equipment that replaces manpower, is precise and fast, saves money and saves time, and is worth investing.

项目流程

晶片外观不良视觉检测设备特点:

1. 消除人眼检测中因疲劳而产生的错捡、漏捡可设置参数,检测规格统一。

2.快速准确识别磁芯表面各种微小缺陷如崩缺、擦伤、污点、花面、划痕等。同时能够做到六面识别、分类等功能以及对缺银、弱划痕、弱斑点等检测。

3. 采用德国的超高分辨率相机,配合自主研发的高精确度算法,可实现每分钟100-1200颗的识别速度,精度达0.01mm,可远程监控,支持产品外型和结构的小范围变动,防止误检。

磁芯外观缺陷瑕疵视觉AOI 磁芯裂纹检验能力  Crack Testing capability

机构选择:

多种上下料机构供您选择!

效益分析:

磁芯外观缺陷瑕疵视觉AOI检测数量是人工目检的8.42倍

设备还能替代尺寸检测人工,暗裂  轻微裂等目检不了的各种缺陷瑕疵。

综上所述:磁芯外观缺陷瑕疵视觉AOI能替代目检人数(EP):6-8人

 

 

 

 

 

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