名称：光学镀膜椭偏仪

　　型号：ME-L

　　品牌：颐光

　　在手机盖板中的应用光学镀膜就好比女士化妆，不仅可使玻璃盖板、背板更漂亮，也可以起到抗氧化、耐酸碱等作用，所以在如今这个“看脸”的时代，盖板的光学镀膜是非常重要的，目前常见的包括AR、AF、AG及后盖颜色膜等镀膜应用。

　　光学镀膜椭偏仪盖板光学镀膜痛点分析

　　1、AR膜透过率不合格NG

　　2、颜色膜调色困难，周期长。

　　3、量产过程产品不稳定，存在色差。

　　椭偏仪在光学镀膜各阶段的作用造成盖板光学镀膜产品不良的主要因素在于：

　　A；仿真设计调用材料折射率与镀膜生产中实际材料折射率不符。

　　B；镀膜设备实际镀层厚度与膜系设计要求不符。

　　C；量产过程对镀膜设备稳定性/均匀性缺乏有效评估手段。

　　椭偏仪可以有效测量修正上述影响因子，为盖板量产保驾护航。

　　1.膜系设计——膜层实际折射率的标定

　　★镀膜实际折射率的影响因素：供氧量、真空度、电子枪光斑大小、温度等

　　★椭偏仪可直接测量获得薄膜材料的光学常数和薄膜厚度，因此通过镀膜机在Si衬底或玻璃衬底上镀单层SiO2、TiO2、Nb2O5、In薄膜，可直接准确测量获得薄膜的光学常数。

　　★通过调整镀膜机参数，以椭偏仪测量获得的单层SiO2、TiO2、Nb2O5、In薄膜光学常数为反馈，将薄膜材料光学常数调整至状态。此时对应的镀膜机参数即为厚度镀膜时所需设定的终参数。

　　2.工艺研发——镀膜设备tolling校正

　　★通常来说，镀膜机通过晶振来控制镀膜厚度，而实际上由于这种晶振式膜厚仪的精度不足，导致实际镀膜厚度与设定镀膜厚度存在较大偏差。在镀膜机中，可通过工具因子（Tooling值）控制镀膜机的蒸镀速率，进而可对实际镀膜厚度进行调控。

　　★椭偏仪可以准确测量获得薄膜的厚度，因此可用于校正镀膜机的工具因子（Tooling值），使实际镀膜厚度与设定镀膜厚度*。

　　3.量产监控——实时监测各项镀膜指标：

　　★镀膜膜厚是否在设计范围。

　　★材料折射率有无显著波动。

　　★透过率是否满足工艺需求。

　　★色度值是否满足工艺需求。

　　★反射率是否满足工艺需求。

　　售后服务：

　　1、厂家货源正品货源有保障，可以根据客户不同测试需求，提供不同测试方案。

　　2、关于售后4小时电话响应，24小时内安排上门服务。终生维护。

　　3、关于发货到款4-5天内到货，江苏、深圳区域第二天可以到货。