光学薄膜纳米厚度测量仪

F10-ARc光学薄膜纳米厚度测量仪

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具体成交价以合同协议为准
2022-11-01 21:26:41
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苏州英莳特仪器科技有限公司

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产品简介

光学薄膜纳米厚度测量仪操作简单且高性价比的减反射与硬涂层检测Filmetrics F10-ARc使得自动测试眼科涂层变得又快又简便。现在,不论生产线操作人员还是研发技术人员都能在几秒钟内检测和记录涂层情况。多重光谱比较目标光谱与多重反射光谱比较–自动评估反射率,小/大位置,并得出明确的读数结论。量化残余颜色残余颜色可以用基本的色彩空间系统形象化的显示。比如CIELAB 和 CIEXYZ。

详细介绍

光学薄膜纳米厚度测量仪

操作简单且高性价比的减反射与硬涂层检测

Filmetrics F10-ARc使得自动测试眼科涂层变得又快又简便。现在,不论生产线操作人员还是研发技术人员都能在几秒钟内检测和记录涂层情况。

多重光谱比较

目标光谱与多重反射光谱比较–自动评估反射率,小/大位置,并得出明确的读数结论。

量化残余颜色

残余颜色可以用基本的色彩空间系统形象化的显示。比如CIELAB 和 CIEXYZ。

使用Hardcoat Upgrade软件升级许可来测试厚度

可选配的Filmetrics FFT算法已经在*众多的硬涂层测试应用中使用。单击鼠标即可同事测量硬涂层和底漆层厚度。

光学薄膜纳米厚度测量仪操作非常简单

只需要将F10-ARc用一根USB线连接到电脑上,就可以做后面的测试。基于Filmetrics的技术,F10-ARc不需要像其他光谱仪那样需要做诸多校准,比如积分时间校准、基准校准,并且拥有使用寿命达到40000个小时的光源和自动波长校准,无需保养而且测试非常可靠。

光谱仪

波长范围:

380 - 1050 nm

波长准确度:

< 0.5 nm

波长可重复性:

0.1 nm

R < RStd 1时精度:                                         0.01* RStd

1

Std

R > RStd 1时精度:                              0.01 * Rmax / RStd

1

噪音:

< 0.0002 A rms

杂散光:

500 nm< 0.25%

厚度 (需选配Hardcoat upgrade软件升级包)

测量范围2,3

0.2 - 15 μm

准确度:                            厚度的0.2%0.01 μm较大者

精度4

好于0.001 μm

基本要求

探头光斑尺寸:

100 μm

光源使用寿命

内置40000小时

电源要求:

2W, USB-supplied

电脑要求

处理器速度:

1 GHz min

接口:

USB 1.0 (推荐USB2.0)

操作系统

PC:

Windows XP(SP2) - Windows 8(64-bit)

Mac:

OS X Lion/Mountain Lion running Parallels


 

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