宇航志达芯片半导体测试高低温冲击试验箱构造美观,高效安全,用途广泛高低温试验箱是航空,汽车,家电,科研等领域的测试设备,用于测试和确定电工,电子及其他产品及材料进行高温,低温,或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。

宇航志达芯片半导体测试高低温冲击试验箱

技术参数：

1、型号：Y-HU-150G

2、内箱尺寸：宽400×高500×深400mm

3、外形尺寸：宽650×高1550×深1010mm

4、温度范围：低温-70℃～高温150℃

5、湿度范围：标准型（20%～98%RH）

6、温度解析度：0.01℃

7、温度波动度：≤±0.5℃

8、湿度波动度：≤±2.0%RH

9、温度均匀度：±2.0℃

10、湿度偏差：75%R.H以下±5.0%RH、75%R.H以上+2.0/-3.0%RH

11、升温速率：约1.0℃～3.0℃/min

12、降温速率：约0.8℃～1.3℃/min

13、电源要求：AC220V/50H