电池芯片老化高低温试验箱厂家可以用来考核和确定电工电子产品或材料在温度变化的环境条件下贮存和使用的适应性。设备采用强迫空气循环来保持工作室内温度的均匀性。为限制辐射影响，设备内壁各部分温度与试验规定的温度之差不大于8％，且试验样品不会受到设备内加热与冷却元件的直接辐射。

高低温试验箱厂家参 照 标 准

本产品满足GB2423.1－2001试验A《高温试验方法》; GB2423.2－2001试验B《低温试验方法》以及其它相关标准的要求。严格按GB 10592—89《高低温试验箱技术条件》进行设计制造，可进行相应高、低温环境试验。

高低温试验箱厂家主要技术参数

电池芯片老化高低温试验箱厂家产品特点:

1、箱体外胆采用SECC钢板喷塑，数控机床加工成型，造型美观大方、新颖并采用无反作用把手，操作简便。

2、采用微电脑温度湿度控制器，控温控湿准确可靠。

3、大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，且采用三层真空玻璃，随时清晰的观测箱内状况。

4、设有独立限温报警系统，超过限制温度即自动中断，确保实验安全运行不发生意外。

5、试验箱箱体左侧配直径50mm的测试孔，可供外接测试电源线或信号线使用。

6、机器底部采用高品质可固定式PU活动轮。

二，Y-HZ-100L高低温试验箱

标准型号和尺寸（也可按客户要求生产）（单位:mm）：

型号 Y-HE-80G  内形尺寸:W×H×D 450×500×400   外形尺寸：650×1500×950

型号 Y-HE-150G 内形尺寸:W×H×D 500×600×500   外形尺寸：750×1600×1050

型号 Y-HE-225G 内形尺寸:W×H×D 500×750×600   外形尺寸：1000×1650×1200

型号 Y-HE-408G 内形尺寸:W×H×D 600×850×800   外形尺寸：1100×1750×1400

型号 Y-HE-800G 内形尺寸:W×H×D 1000×1000×800 外形尺寸：1500×1900×1400

型号 Y-HE-1000G内形尺寸:W×H×D 1000×1000×1000外形尺寸：1500×1900×1600