半导体微量光子检测显微镜

HOTMOS-1000半导体微量光子检测显微镜

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-07-16 17:24:04
3123
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产地类别:进口；应用领域:医疗卫生,化工,能源,电子,航天；
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产地类别
进口
应用领域
医疗卫生,化工,能源,电子,航天
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上海谨通仪器仪表有限公司

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产品简介

半导体微量光子检测显微镜
微光显微镜是捕获半导体器件缺陷或失效点发射
微量光子的一种无损检测设备。在电激励作用下，电
子-空穴对或高能热载子以光子的形式释放出多余动
能。根据此原理，利用高增益低噪声的相机就能精确
定位到缺陷位置。EMMI系统C主要适用于PN结漏电、氧化层崩溃、
静电放电破坏、闩锁效应、碰撞电离和雪崩击穿等多
种物理场景。

详细介绍

半导体微量光子检测显微镜

半导体微量光子检测显微镜


产品特征参数


软件图像处理功能

 

8寸高压手动气浮探针台



 

紫外、可见光、红外显微光学系统

2倍、5倍、10倍、20倍与50倍红外物镜

400 -1000 nm 或900-1700 nm响应波长

支持3000 V高压偏置

相机与源表的一体化控制程序

 

应用方向

GaN与SiC 基功率器件

的漏电“热点”定位

GaN基LEDs与结型探测

器的漏电“热点”定位

Si基MOSFET与IGBT等功

率器件的漏电失效“热

点”定位

GaAs基激光器光分布与

漏电“热点”定位

常规的器件的静态电学

参数测试。

相关系列有关于芯片失效与缺陷检测都可以联系我司，可看样机测试









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