X射线镀层膜厚仪是一种用于精密测量金属电镀层厚度的设备。其工作原理基于X射线穿过薄膜后，会根据薄膜的材料和厚度发生不同程度的吸收。膜越厚，吸收的X射线越多；膜越薄，则吸收的X射线越少。通过测量通过薄膜后的X射线强度的变化，可以得到薄膜的厚度信息。
型 号：iEDX-150WT
生 产 商：韩国 ISP 公司
特点：该型仪器采用开槽式大平台设计，适合测试扁平状大面积样品，适合线路板及连接器行业的镀层厚度管控。
(一)iEDX-150WT 镀层膜厚仪X射线光谱仪产品优势
1. 镀层检测，多镀层检测可达5层，精度及稳定性高。
2. 平台尺寸：620*525mm，样品移动距离可达 110*110*5mm。(固定台可选)
3. 激光定位和自动多点测量功能。
4. 可检测固体、粉末状态材料。
5. 运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低。
6. 可进行未知标样扫描、无标样定性，半定量分析。
7. 操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性，快速出检测结果。
8. 可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。
9. 软件升级。
10. 无损检测，一次性购买标样可长期使用。
11. 使用安心无忧，售后服务响应时间 24H 以内，提供*保姆式服务。
(二)iEDX-150WT 镀层膜厚仪X射线光谱仪配置及技术指标
1. X 射线管：高稳定性 X 光光管，微焦点 X 射线管、Mo (钼) 靶
铍窗口， 阳极焦斑尺寸 75um，油绝缘，气冷式，辐射安全电子管屏蔽。
50kV，1mA。高压和电流设定为应用程序提供良好性能。
2. 探测器：SDD 探测器(可选Si-Pin)
能量分辨率：125±5eV(Si-Pin:159±5eV)
3. 滤光片/可选
初级滤光片：Al滤光片，自动切换
7个准直器：客户可选准直器尺寸或定制特殊尺寸准直器。
(三)X射线镀层测厚仪测量原理
