Omniscan X3 相控阵仪

Omniscan X3 相控阵仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-08-21 09:06:25
817
属性:
产地类别:国产;价格区间:面议;应用领域:化工;
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产品属性
产地类别
国产
价格区间
面议
应用领域
化工
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增宜检测技术(上海)有限公司

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产品简介

Omniscan X3 相控阵仪是一款功能齐备的相控阵工具箱。其*创新的全聚焦方式(TFM)可以提供质量的图像,从而有助于检测人员充满信心地识别缺陷;其性能强大的软件功能和便捷的工作流程有助于检测人员迅速地投入到工作中。

详细介绍

提供全聚焦方式(TFM)功能的Omniscan X3 相控阵仪

信心满满,昭然可见
Omniscan X3 相控阵仪是一款功能齐备的相控阵工具箱。这款仪器所提供的性能强大的工具,如:全聚焦方式(TFM)图像和高级成像功能,可使用户更加充满信心地完成检测。
*创新的全聚焦方式(TFM)
更好的缺陷成像性能,可以更清晰地显示微小的缺陷
可为早期的高温氢致(HTHA)缺陷成像,
以在关键的早期探测到这种缺陷
机载声学影响图(AIM)的反射率模拟器有助于
以图像方式显示全聚焦方式(TFM)的灵敏度,还可以根据实际情况进行调节
屏幕上最多可显示4种模式的全聚焦方式(TFM)图像,有助于缺陷的解读和定量
改进的相控阵技术
最大脉冲重复频率是OmniScan MX2探伤仪的3倍
单独的衍射时差(TOFD)菜单,加快了工作流程
改进的快速相控阵校准,使用户享有更轻松的操作体验
800%的高波幅范围,减少了重新扫查的需要
机载双晶线阵和双晶矩阵探头的支持性能,加速了创建设置的过程
迅速地投入到检测工作中
机载扫查计划、改进的快速校准和简化的用户界面,有助于省去一些不必要的步骤,从而可使用户在很短的时间内完成检测的设置工作。
性能可靠,令人信赖
符合IP65评级标准,防雨防尘
机载GPS,可提供采集数据的位置
可通过无线方式连接到奥林巴斯科学云系统,以下载新的软件
得益于25 GB的文件容量,仪器可以无需停歇,持续扫查
检测团队中的主力成员
OmniScan X3探伤仪所提供的功能有助于用户高效地完成检测工作。这些功能可以在以下应用中大显身手:焊缝检测、管线和管道的检测、耐腐蚀合金的检测、腐蚀成像、高温氢致缺陷(HTHA)的检测、初期裂纹的探测、复合材料的检测和缺陷成像。

与现有的探头和扫查器相兼容
32:128PR型号,提供64晶片的全聚焦方式(TFM)功能
还提供16:64PR和16:128PR型号
最多8个声束组,1024个聚焦法则
与OmniScan MX2/SX仪器的文件相兼容,方便了用户转换到新仪器的操作
64 GB的内置存储容量,还可以借助外置USB驱动盘扩展存储容量
新一代OmniScan带给您更美好的体验
OmniScan X3仪器的软件性能强大,其简洁、现代的菜单结构减少了按键的次数,改进了从开始设置到最后制作报告的整个检测过程,因此无论新老用户都会得心应手地使用这款仪器。
屏幕上最多可显示4种模式的全聚焦方式(TFM)图像,有助于缺陷的解读和定量
在同一个检测中使用不同的全聚焦方式(TFM)模式(声波组),使检测人员更有希望探测到方向异常的缺陷指示。OmniScan X3探伤仪可以最多同时显示4种模式的全聚焦方式(TFM)图像,从而使用户看到从不同角度生成的图像。来自每种模式的响应和特征,如:端部衍射、圆角凹陷和缺陷剖面,可被综合在一起进行分析,从而可以确认缺陷的类型,并提高缺陷定量的性能。
提前确认覆盖区域
声学影响图(AIM)工具可以基于用户的全聚焦方式(TFM)模式、探头、设置和模拟反射体,即刻提供灵敏度的可视化模型。
声学影响图(AIM)工具消除了扫查计划创建过程中的猜测因素,因为屏幕上会显示某个声波组(TFM模式)的效果图,使用户看到灵敏度消失的位置,并对扫查计划进行相应的调整。
迅速地投入到检测工作中
机载扫查计划工具有助于用户在开始检测之前观察到检测图像。
在一个简单的工作流程中创建包含全聚焦方式(TFM)区域在内的整个扫查计划
同时配置多个探头和声波组
改进的校准功能和设置验证工具
看似熟悉、实有提升的OmniScan操作体验
OmniScan X3探伤仪虽然保留了OmniScan仪器熟为人知的界面,但却减少了设置和分析所需的步骤。因此拥有OmniScan X2的用户可以快速方便地过渡到OmniScan X3的使用,而新的用户则可以借助OmniScan X3轻松地学习检测知识。
利用PC机的强大功能
OmniPC软件为用户提供一套高级工具,如:并排显示视图的功能,这种视图可使用户在屏幕上比较两个文件,从而在分析数据时更加充分地利用PC机的性能。
将数据方便地导出到USB存储盘
观察焊缝左右两侧的图像
在同一个屏幕上将当前和以前捕获的检测数据放在一起进行比较



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