OIP200B光隔离探头 OIP100B

OIP 系列光隔离探头采用 SigOFIT ™光隔离技术，精确解决存在大共模电压情况下的高带宽以及高电压差分信号问题，在其带宽范围内提供YI流的共模抑制性能， 为您提供最JIA的隔离测量解决方案。

特点：

●100MHz/ 200MHz带宽

●高达 160dB 的共模抑制比

●1.5% 测量精度

●1mVrms 左右的噪声

●采用尺寸小，连接稳定安全的 SMA 接头

●差分电压可达 ±1250Vpk

●共模隔离电压高达 50kVpk

应用场景：

●氮化镓、碳化硅、IGBT 半 / 全桥设备的设计与分析

●逆变器、UPS 及开关电源的测试

●高压高带宽测试应用的安全隔离测试

●宽电压、宽带测试应用

●各种浮地测试

高精度测量的结果：

OIP系列光隔离探头可以提供 1.5% 的高测量精度，ZUI大程度保证了信号的完整性，是您最JIA的测量方案选择。

高可靠的连接方式：

OIP系列光隔离探头采用 SMA 高质量微波高频连接器，其尺寸小，连接稳定，可以ZUI大程度上保证连接的可靠性。

氮化镓与碳化硅测试的选择：

OIP系列光隔离探头通过光学隔离几乎消除了共模干扰，凭借其高共模抑制比、短测量环路、高共模&范围低衰减倍数，相比于使用差分探头，可以大大减少测量时产生的震荡和噪声。

极其便捷与轻松的测量体验：

OIP系列光隔离探头光-电 还原器采用示波器 USB 端口供电，电 - 光转换器采用自身电池供电，可以持续工作 10 小时以上，无额外适配器，配合麦科信 TO 系列平板示波器，可以获得极其便捷与轻松的测量体验。

最准确的 GaN 和 SiC 表征

的信号完整性

● 1.5% 测量精度

● 高达 160dB 的共模抑制比

● 1mVrms 左右的噪声

解决传统差分探头测量时的困扰

● 更小的震荡与噪声

● 高共模电压时，依然可以通过小衰减比的探头

前端提高测量的精度

高可靠性连接

● 采用 SMA 连接，尺寸小，连接稳定

● 可保证最小测量环路

● 通过不同衰减比的衰减器，可测差分电压

可达 ±1250Vpk

OIP200B光隔离探头 OIP100B