反射式膜厚测量仪
反射式膜厚测量仪
反射式膜厚测量仪
反射式膜厚测量仪

A3-SR反射式膜厚测量仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-08-16 08:11:39
10522
属性:
产地类别:国产;应用领域:化工,石油,电子,印刷包装,纺织皮革;
>
产品属性
产地类别
国产
应用领域
化工,石油,电子,印刷包装,纺织皮革
关闭
苏州瑞格谱光电科技有限公司

苏州瑞格谱光电科技有限公司

中级会员5
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

A3-SR-100S系列反射式膜厚仪可用于测量半导体镀膜,手机触摸屏ITO等镀膜厚度,PET柔性涂布的胶厚等厚度,LED镀膜厚度,建筑玻璃镀膜厚度及其他需要测量膜厚的场合。配手持式探头,A3-SR-100S可以用来一键式测量车灯罩表面硬化膜(包括过渡层)和背面的防雾层,精度达到0.02um, 只需1秒钟,还可以测量内饰件,外饰件的铝阳极氧化层和漆层的厚度,精度达到0.02um

详细介绍

反射式膜厚测量仪

A3-SR 系列反射式膜厚测量仪可用于测量半导体镀膜,手机触摸屏ITO等镀膜厚度,PET柔性涂布的胶厚等厚度,LED镀膜厚度,建筑玻璃镀膜厚度及其他需要测量膜厚的场合。A3-SR系列可用于测量2纳米到3000微米的膜厚,测量精度达到0.1纳米。 在折射率未知的情况下,A3-SR 还可用于同时对折射率和膜厚进行测量。配手持式探头,A3-SR 可以用来一键式测量车灯罩表面硬化膜(包括过渡层)和背面的防雾层,精度达到0.02um, 只需1秒钟,还可以测量内饰件,外饰件的铝阳极氧化层和漆层的厚度,精度达到0.02um

此外,A3-SR 还可用于测量样品的颜色和反射率。样品光斑在1毫米以内。A3-SR进行测量简单可靠,实际测量采样时间低于1秒。配合我们的Apris SpectraSys 软件进行手动测量,每次测量时间低于5秒。Apris SpectraSys支持50层膜以内的模型并可对多层膜厚参数进行测量。Apris SpectraSys 软件还拥有近千种材料的材料数据库,同时支持函数型(Cauchy, Cauchy-Urbach,Sellmeier), 物理光学(Drude-Lorentz,Tauc-Lorentz),混合型(Maxwell Garnett, Bruggeman)EMA 等折射率模型。

同时,客户还可以通过软件自带数据库对材料,菜单进行管理并回溯检查测量结果。目标应用:半导体镀膜,光刻胶玻璃减反膜测量蓝宝石镀膜,光刻胶ITO 玻璃太阳能镀膜玻璃各种衬底上的各种膜厚,颜色测量卷对卷柔性涂布光学膜其他需要测量膜厚的场合

image.png


上一篇:反射式膜厚测量仪在薄膜厚度测量的应用 下一篇:EES:氰基管理实现23.2%效率的低带隙PSCs
热线电话 在线询价
提示

请选择您要拨打的电话:

当前客户在线交流已关闭
请电话联系他 :