SiC 功率器件动态参数测试系统

SiC 功率器件动态参数测试系统

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2021-09-07 15:28:23
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属性:
产地类别:国产;应用领域:化工,电子;
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产品属性
产地类别
国产
应用领域
化工,电子
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武汉赛斯特精密仪器有限公司

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产品简介

SiC 功率器件动态参数测试系统 单管及模块、整流桥、可控硅、光耦、PIM及IPM模块等九大类半导体分立器件全静态参数测试。

详细介绍

1.测试产品:Sic FRD,MOSFET(兼容Si基产品)
2. 测试能力:
2.1. 开关时间测试 
测试条件: ID:1A~200A, VDS:5V~3500V, VGS:-10V~20V, Rg:手动可调,
         阻性,感性负载可切换。
测试参数:  td(on)\\ tr\\ td(off)\\tf:0.1nS -200nS, Eon\\Eoff:10uJ~100mJ
2.2. 反向恢复特性测试
测试条件:IF:1A~200A , VR:5V~3500V, di/dt:50A/us~10000A/us             
测试参数: trr:0.1nS -200nS,Qc:1nC~100uC, Irm:1A~200A , Erec:0.1uJ~1mJ
2.3. 栅极电荷测试
测试条件: VDS:5V~3500V,ID:1A~200A, VGS:-10V~20V
测试参数: Qgon、Qgd、Qgs:1nC~100uC,Vpl:-10V~20V
2.4. 短路电流测试
测试条件:Pulse width:1us~100us, VDS:5V~3500V
测试参数: Peak ID:10A~1000A, Delta Vds:10V~200V
3.控制界面
上位机使用Labview界面开发,该程序体现为人机交互界面,作为测试平台的交互系统,通过与示波器、主控板等设备通讯,实现对设备的自动远程操作并指示示波器进行数据采集、在界面上复现示波器的测试波形、并对测试波形进行分析、计算,最终得到结果进行显示和存储。

武汉赛斯特精密仪器有限公司是武汉市专业研发,以力学试验机仪器为主,同时销售各种、中低端分析仪器。现有员工60多人,公司成功开发了PCI放大采集卡和中文版试验软件,并采用全数字化,操作简捷,*符合GB、ISO、JIS、ASTM、DIN等标准、国家标准、行业标准的要求,公司亦通过了ISO9001质量体系认证和国家计量体系认证,荣获了“武汉市第九界消费者满意单位”的称号。产品广泛应用于电子、高校、政府研究机构、环保机构、防军工、航天、石油化工、纺织制造、第三方检测机构、家级别研究院、新能源、集成电路、芯片、封装测试、半导体行业、显示器领域、光电材料、锂电池、机械生产等领域。并与武汉理工大学、华中科技大学等建立了长期合作,每年投入大量研究经费,招揽各方秀的技术人才加盟突破国内技术壁垒,不断攻克新的技术难题,另外公司还积极拓展海外业务,产品远销越南,印度,埃及等国家和地区。



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