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SRPV系列膜厚传感器
光学膜厚传感器,SRPV100 是一款应用于光伏TopCon产品Poly膜厚在线监控的传感器，紧凑集成化设计，操作简便，通过分析干涉形成的反射光谱，准确表征Poly薄膜厚度、光学常数等信息。 参考价面议 -
HRSR系列膜厚传感器
HRSR系列膜厚传感器产品特点
■ 超精密厚度测量，满足5μm-800um的厚度监测 ；
■ 可测量所有具有粗糙、反射或不透明表面 ；
■ 对恶劣的工业环境适应性高 ；
■ 对热、湿或振动不敏感；
■ 采样速率大于3KHz。 参考价面议 -
SR系列膜厚传感器
国产膜厚仪,SR系列膜厚传感器提供快速、稳定的膜厚在线量测解决方案。 参考价面议 -
IRE-200 膜厚测试仪
光学薄膜测厚仪,IRE-200是一款超高精度的外延层厚度测量设备，利用红外光谱经傅里叶变换进行快速分析，主要应用于Si、GaAs、InP、SiC、GaN等各类外延片的外延层厚度测量。 参考价面议 -
ME-Mapping光谱椭偏仪
教学椭偏仪,Mapping系列光谱椭偏仪是全自动高精度Mapping绘制化测量光谱椭偏仪，配置全自动Mapping运动机构，通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，快速实现薄膜全基片的膜厚及光学参数自定义绘制化测量表征。 参考价面议 -
椭偏在线监测装备
椭圆偏光仪,椭偏在线监测装备针对LCD、OLED等新型平板显示量产中所涉及的PI配向膜、光刻胶薄膜、ITO薄膜、有机发光薄膜、有机/无机封装薄膜等质量控制需要，专门设计的在线薄膜测量系统。可适用于空气、N2、真空等环境条件，自动实现玻璃基板上各种膜系结构厚度分布、光学常数分布的全片快速扫描测量。 参考价面议 -
SE-i 光谱椭偏仪
红外椭偏仪,SE-i光谱椭偏仪针对有机/无机镀膜工艺研究的需要开发的原位薄膜在线监测中的定制化开发，可通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，椭偏测量头快速实现光学薄膜原位表征分析 参考价面议 -
椭偏检测机台
穆勒矩阵光谱椭偏仪,椭偏检测机台通过整体高度集成技术，实现不同椭偏测量模块在线/离线式整体椭偏测量解决方案。 参考价面议 -
SE-PV光谱椭偏仪（光伏）
SE-PV系列是针对光伏电池片特性专门设计的全光谱椭偏仪，基于旋转补偿器调制技术，一次性获取Psi/Delta、N/C/S等偏振信号，能实现光伏行业中绒面和非绒面样品的薄膜膜厚、光学常数的快速表征。 参考价面议 -
SR-Mapping反射膜厚仪
SR-Mapping反射膜厚仪是超快速薄膜表征仪器，通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射光谱，从而测量薄膜的厚度及光学常数。 参考价面议 -
SE-VF 光谱椭偏仪
针对微区图形结构测量定制的专用型光谱椭偏仪 参考价面议 -
RT-V反射透射测量仪
薄膜折射率测试,RT-V 系列反射透射测量仪，采用进口氘卤二合一光源，结合高性能分光光谱仪，可测量获得紫外到近红外光谱范围内薄膜的反射率和透射率光谱，并进一步计算获得样品色坐标，以及薄膜厚度、光学常数等信息。 参考价面议